
Zautomatyzowany pomiar mikroskopowy danych obrazu 2D
Szybkie pomiary z dokładnością nanometrów
W przypadku pomiarów seryjnych 2D wykonywanych jest kilka zdjęć obiektu, które są następnie oceniane. Ta metoda pomiaru jest często stosowana w produkcji przemysłowej, zwłaszcza do kontroli jakości komponentów. Dzięki oprogramowaniu ZEISS ZEN core można korzystać z całkowicie zautomatyzowanych, opartych na sztucznej inteligencji pomiarów seryjnych 2D, które zapewniają wiarygodne i precyzyjne wyniki. Oprogramowanie umożliwia pomiary mikroskopowe w zakresie od mikro do nano.
- Pomiar seryjny z użyciem prostych i złożonych planów pomiarowych za naciśnięciem jednego przycisku
- Automatyczne generowanie raportów oraz prosta wizualizacja danych i wykresów
- Możliwość połączenia z popularnymi systemami zarządzania jakością (PiWeb lub Q-DAS)
- Udostępnianie planów testów i wyników pomiarów innym współpracownikom i laboratorium w innych lokalizacjach
Zautomatyzowane pomiary seryjne 2D mikroskopijnie małych próbek
Czy możliwe jest wykonywanie zautomatyzowanych pomiarów seryjnych 2D mikroskopijnie małych próbek, takich jak wzory nawiercanych otworów w płytkach PCB? Tak, ZEISS ZEN core to umożliwia. Precyzyjne pomiary w mikroskopijnej skali są jedną z mocnych stron oprogramowania. Nowoczesne maszyny produkcyjne mogą wytwarzać mikroprecyzyjne komponenty z nanostrukturami i zachowaniem wąskich tolerancji. Aby zapewnić jakość tych produktów, należy zmierzyć cechy, które często są niezauważalne dla ludzkiego oka i optycznych maszyn pomiarowych. W tym celu stosuje się pomiary mikroskopowe oferujące zakresy mikro lub nano.
Ocena metrologiczna próbek w zakresie od nano do mikro ma zatem zasadnicze znaczenie dla lepszej jakości i wyższej wydajności. Dzięki oprogramowaniu do oceny ZEISS oferuje zoptymalizowane funkcje importu plików obrazów oraz ich analizy.

Automatyczne określanie istotnych wymiarów odległości na mikroprocesorze

Zautomatyzowany przepływ pracy ZEN core dla dokładności wymiarowej komponentu elektronicznego