ZEISS O-INSPECT duo​

ZEISS O-INSPECT duo​

Mikroskop i optyczna współrzędnościowa maszyna pomiarowa (VMM) w jednym

Duet ZEISS O-INSPECT to dwie technologie w jednej maszynie: mikroskopia i pomiary współrzędnościowe. Duże części, takie jak płytki PCB, ogniwa paliwowe czy akumulatory, można mierzyć i badać mikroskopowo jednocześnie w wysokiej rozdzielczości. Połączenie pomiarów 3D i kontroli mikroskopowej zwiększa wydajność i oszczędza miejsce w laboratoriach jakości. ZEISS O-INSPECT duo jest oferowany w rozmiarze 8/6/3.​

2-w-1: Mikroskop i maszyna pomiarowa w jednym​

Szybkie i precyzyjne pomiary 3D – optyczne i stykowe

Optyka o wysokiej rozdzielczości z możliwoscią zastosowania oprogramowania inspekcyjnego ZEISS ZEN core

Zalety
Funkcjonalności
Oprogramowanie
Dane techniczne
Przykłady wdrożeń
Webinarium
Pobierz
Kontakt

Jedyny w swoim rodzaju system muti-technologiczny ZEISS

Jako „mikroskop VMM” ZEISS O-INSPECT duo ma dwa podstawowe zastosowania w kontroli jakości: precyzyjny pomiar i inspekcja w wysokiej rozdzielczości dużych lub wielu małych komponentów. Urządzenie zostało opracowane specjalnie do zastosowań, w których wymagane jest połączenie pomiaru współrzednościowego i inspekcji – w tym segmentacji, łączenia i przetwarzania obrazami kolorowymi. Zamiast konieczności zakupu zarówno maszyny pomiarowej, jak i mikroskopu, w laboratoriach kontrolujących jakość wystarczy teraz tylko jedno urządzenie, co pozwala zaoszczędzić miejsce i czas, a w wyniku tego zredukować koszty. Dowiedz się więcej o dalszych zaletach tego wielofunkcyjnego systemu w różnych obszarach zastosowań.​

Precise measurements – optical and tactile​
METROLOGIA

Precyzyjne pomiary – optyczne i stykowe

Wysoka dokładność w pomiarach płaskich lub łatwo odkształcalnych przedmiotów

ZEISS O-INSPECT duo to multisensorowa maszyna pomiarowa, która wyposażona jest w imponującą optykę o wysokiej rozdzielczości oraz stykową głowicę skanującą ZEISS VAST XXT. Głowica skanująca umożliwia szybkie i dokładne pomiary 3D poprzez przechwytywanie dużej liczby punktów pomiarowych w jednym ruchu.​

Bardzo małe lub łatwo odkształcalne części można mierzyć bezdotykowo i z doskonałą dokładnością, a także przy znacznym skróceniu czasu pomiaru dzięki technice ZEISS VAST probing (ZVP). Jest to możliwe dzięki dużemu polu widzenia, wysokiej rozdzielczości obrazu i wyjątkowej dokłądności odwzorowania obrazu, nawet w obszarach peryferyjnych.

METROLOGIA

Inspekcja i pomiar powierzchni na jednej maszynie

Współrzędnościowa maszyna pomiarowa dziś, mikroskop jutro

Oprócz pomiaru wymiarów geometrycznych wiele części wymaga również kontroli jakości powierzchni. Tam, gdzie wcześniej do pomiarów i kontroli powierzchni używano dwóch róznych urządzeń, teraz ZEISS O-INSPECT duo oferuje rozwiązanie 2-w-1. Dzięki intuicyjnej obsłudze urządzenia oraz jego kolorowej kamerze Discovery.V12 scout 160c o rozdzielczości 5 MP z 12-krotnym zoomem optycznym, zadania inspekcyjne można teraz realizować także na urządzeniu pomiarowym. ZEISS O-INSPECT duo z oprogramowaniem ZEISS CALYPSO stosuje się do zadań metrologicznych, a do zadań mikroskopowych ten sam system wykorzystuje oprogramowanie ZEISS ZEN core.

Surface inspection and measurement on one machine​
Inspecting large parts as a whole​
MIKROSKOPIA​

Nasz największy mikroskop

Inspekcja dużych części w całości

Cięcie komponentów należy już do przeszłości: teraz możliwa jest całościowa inspekcja optyczna dużych części, takich jak płytki PCB, ogniwa paliwowe lub akumulatory. Oszczędza to cenne zasoby i czas, a także ogranicza źródła błędów spowodowanych przenoszeniem fragmentarycznych pomiędzy różnymi systemami.​

Oprócz inspekcji dużych części, ZEISS O-INSPECT duo nadaje się również do automatycznej inspekcji wielu małych części. Oznacza to, że mikroskop pomiarowy wystarczy raz załadować – sama kontrola odbywa się wtedy w jednym procesie inspekcyjnym, bez potrzeby wymiany próbek.​

MIKROSKOPIA

Kolorowa kamera o wysokiej rozdzielczości 5 MP

Precyzyjne wykrywanie defektów

Podczas gdy obrazy czarno-białe zapewniają wysoki kontrast w technice pomiarowej, obrazy kolorowe mają przewagę w analizie mikroskopowej: dzięki 5-megapikselowej rozdzielczości obrazu w kolorze nawet małe defekty są wyraźnie widoczne i pozwalają na precyzyjną inspekcję i ocenę. ZEISS O-INSPECT duo można używać ze znanym oprogramowaniem do mikroskopii ZEISS ZEN core.​

Surface inspection and measurement on one machine​

Poznaj funkcjonalności ZEISS O-INSPECT duo​

ZEISS O-INSPECT duo
Duże pole widzenia i wysoka rozdzielczość obrazu

Matryca kamery ZEISS Discovery.V12 scout 160c o rozdzielczości 5 MP zapewnia wysoką rozdzielczość obrazu i umożliwia wizualizację najdrobniejszych szczegółów i struktur dzięki 12-krotnemu zoomowi. Duże pole widzenia wynoszące 16,1 x 12 mm umożliwia wyświetlenie większej ilości informacji na obrazie. Kolorowa kamera umożliwia precyzyjną analizę mikroskopową.​

Oświetlenie

Oświetlenie składa się z pierścienia zewnętrznego i wewnętrznego z białymi diodami LED umieszcznych w 16 segmentach, którymi można indywidualnie sterować. Urządzenie posiada również koncentryczne oświetlenie górne i przechodzące, umożliwiające analizę w różnorodnych zastosowania i różnych detali.

Szybkie i precyzyjne pomiary stykowe 3D

Głowica ZEISS VAST XXT umożliwia skanowanie z dużą dokładnością, rejestrując dużą liczbę punktów pomiarowych w jednym ruchu, zapewniając dokładność od 1,5 µm + L/250 µm.​

Duży stół pomiarowy

Stół o wymiarach 800 x 600 x 300 mm umożliwia pomiar i inspekcję dużych detali o masie do 100 kg, bez konieczności ich cięcia, niszczenia czy obróbki przed pomiarem. Alternatywnie, dzięki rozmiarowi stołu można automatycznie analizować kilka małych części na raz.​

2 systemy pomiarowe

ZEISS CALYPSO oferuje ulepszone opcje wizualizacji, które pozwalają zaoszczędzić czas. System pozwala wyświetlać modele CAD nałożone na siebie, a możliwe odchylenia (RZECZYWISTE od NOMINALNEGO) można szybko zidentyfikować. Dzięki różnorodności opcji ZEISS CALYPSO oferuje również odpowiednie narzędzia do zadań specjalnych. ZEISS ZEN core to odpowiednik CALYPSO w mikroskopii: oprócz klasycznego obrazowania pakiet oprogramowania zawiera także narzędzia do wizualizacji, segmentacji, analizy i przesyłania danych do projektów łączących obrazowania w połączonych środowiskach laboratoryjnych i produkcyjnych.​

Profesjonalne i przydatne raporty

Raportowanie ZEISS PiWeb pozwala na dokumentację i wizualizację danych pomiarowych. Wszystko odbywa się za jednym kliknięciem, zapewniając przydatny wgląd w części i procesy.​

Optymalny kontrast

Oprócz współosiowego oświetlenia górnego i przechodzącego, ZEISS O-INSPECT duo oferuje również różne opcje sterowania oświetleniem pierścieniowym. Wewnętrzne i zewnętrzne pierścienie LED można włączać i wyłączać oddzielnie lub aktywować tylko w poszczególnych segmentach

Wewnętrzny

pierścień LED

Inner LEDs​

Oświetlenie wewnętrznym pierścieniem zwiększa kontrast w fakturze powierzchni, co prowadzi do poprawy jakości obrazu, takiej jak lepsze ogniskowanie – w celu uzyskania jeszcze bardziej precyzyjnych wyników pomiarów.​

Wewnętrzny i zewnętrzny pierścień LED​

Inner and outer LEDs​

Oświetlenie pierścieniowe składa się z wewnętrznego i zewnętrznego pierścienia diod LED w kolorze białym. Połączenie wewnętrznego i zewnętrznego pierścienia diod LED zapewnia maksymalne oświetlenie analizowanej części.

Zewnętrzny

pierścień LED

Outer LEDs​

Diody LED zewnętrznego pierścienia umożliwiają odfiltrowanie zakłócającego światła otoczenia. Zapewnia to takie korzyści, jak oświetlenie kolorowych materiałów o wysokim kontraście.

Oświetlenie

segmentowe

Segment lighting​

Oświetlenie pierścieniowe składa się z 16 segmentów, którymi można sterować. Zapewnia to zoptymalizowane oświetlenie zgodnie z właściwościami analizowanej części.​

Ergonomia pracy

ZEISS O-INSPECT duo musi nie tylko spełniać najwyższe standardy techniczne pod względem jakości, niezawodności i szybkości, ale także musi być bezpieczny, ergonomiczny i łatwy w użyciu. Doskonałość techniczna naszych systemów osiągnięta jest w pełni wtedy, gdy można je łatwo obsługiwać zgodnie z przeznaczeniem. Dlatego wyposażyliśmy ZEISS O-INSPECT duo w wiele przydatnych funkcji.

Opcja: Paleta

Optional pallet​

Opcjonalna paleta przydaje się do analiz płaskich elementów i umożliwia łatwy transport oraz bezpieczne mocowanie na maszynie.​

Zdejmowana przednia pokrywa

Removable front cover​

Dzięki zdejmowanej przedniej pokrywie, ZEISS O-INSPECT duo można wygodnie i łatwo przetransportować w wybrane miejsce i optymalnie ustawić za pomocą wózka widłowego.​

Uchwyt do panelu sterowania

Control panel holder​

Uchwyt panelu sterowania można umieścić po dowolnej stronie maszyny, zapewniając optymalną dostępność i funkcjonalność.​

CALYPSO czy ZEN core? Oba systemy!​

ZEISS O-INSPECT duo wyposażony jest jedocześnie w dwa dedykowane systemy posiadające specalizowane funkcje dedykowane do różych zadań: mikroskopii i metrologii. Operatorzy z odpowiednich dziedzin nie muszą zatem uczyć się nowego oprogramowania.​

ZEISS CALYPSO

ZEISS CALYPSO do zoptymalizowanej kontroli jakości

Współrzędnościowe maszyny pomiarowe ZEISS w połączeniu z ZEISS CALYPSO wykorzystują cały swój potencjał. Zoptymalizuj kontrolę jakości: oprogramowanie wspiera Cię przed, w trakcie i po pomiarze. Mierz i analizuj swoje części za pomocą szeregu różnych funkcji i maksymalnie wykorzystaj współrzędnościową maszynę pomiarową

Więcej o ZEISS CALYPSO​
  • Automatyczne tworzenie planów inspekcji na podstawie PMI:​ ZEISS CALYPSO automatycznie tworzy plany inspekcji w oparciu o dane PMI, obejmujące wszystkie istotne funkcje i cechy.​
  • Wersjonowanie planów pomiarowych:​ Możesz prześledzić wszystkie swoje kroki, ponieważ wszystkie warianty planów są wersjonowane. Nie musisz pracować z kopiami, ponieważ wszystko jest zarządzane bezpośrednio w planie inspekcji.
  • Wdrażanie i optymalizacja strategii pomiarowych: Zintegrowany generator służy do tworzenia strategii pomiarowych w celu zastosowania strategii pomiarowych specyficznych dla firmy lub optymalizacji planów inspekcji w oparciu o zalecenia ZEISS.​
  • Wydajna wizualizacja wyników pomiarów: dzięki raportom ZEISS PiWeb system ZEISS CALYPSO oferuje zintegrowane, profesjonalne narzędzie do projektowania protokołów pomiarowych, umożliwiające tworzenie wizualizacji wyników.​

Mikroskopia oparta o system ZEISS ZEN core łączy techniki mikroskopowe w jeden projekt

System ZEISS ZEN core obsługuje więcej niż tylko obrazowanie mikroskopowe: to najbardziej wszechstronny zestaw narzędzi do obrazowania, segmentacji, analizy i łączenia danych na potrzeby mikroskopii w laboratoriach materiałowych w celu tworzenia projektów zintegrowanych systemowo. Oferuje również rozbudowane funkcje, takie jak tiling (mozaika), stitching (łaczenie obrazów czątkowych) i automatyczne wykrywanie błędów.

Więcej o ZEISS ZEN core
  • Jeden interfejs dla wszystkich mikroskopów ZEISS: ZEISS ZEN core zapewnia ujednolicony interfejs użytkownika dla mikroskopów i obektywów ZEISS. Wykonuj pracę opartą o łączenie wszystkie technik obrazowania i analizuj zagregowane dane z różnych systemów, laboratoriów i lokalizacji
  • Zaawansowane obrazowanie i automatyczna analiza:​ ZEISS ZEN core to Twoje centrum dowodzenia umożliwiające konfigurowanie funkcji automatycznego obrazowania, segmentacji i analizy obrazów złożonych z danych dostarczanych z wielu mikroskopów.​
  • Rozwiązania infrastrukturalne dla połączonego laboratorium: ZEISS ZEN core zapewnia infrastrukturę dla połączonych środowisk laboratoryjnych i ujednolica wszystkie rozwiązania ZEISS do obrazowania i mikroskopii w jednym interfejsie użytkownika.​
Multi-modal, connected microscopy with ZEISS ZEN core​

Dane techniczne

 

 

Zakres pomiarowy

8/6/3​

Układ optyczny

obiektyw ZEISS Discovery.V12 scout 160 c,
kamera kolorowa 5 MP (2646 x 2056 pikseli​)

Oświetlenie

16-segmentowy pierścień LED światła białego, koncentryczne światło przechodzące i odbite

Dystans roboczy w mm​

55​

Zoom optyczny​

12 x​

Maksymalne pole widzenia w mm​

16,1 x 12​

Kompatybilna głowica stykowa

ZEISS VAST XXT – TL1/TL3​

Nośność stołu

100 kg​

Dokładność pomiaru (stykowy i optyczny)

1D: 1,5 μm + L/250​

2D: 1,8 μm + L/250 μm​

3D: 2,2 μm + L/250 μm​

Oprogramowanie

ZEISS CALYPSO (przy zastosowaniach  metrologicznych)​

ZEISS ZEN core (przy zastosowaniach mikroskopowych)

Przykłady zastosowań

Obejrzyj nagrania przedstawiające zastosowanie systemu ZEISS O-INSPECT duo i przekonaj się jak mierzone są i jak wygląda inspekcja części takich jak  wyroby medyczne z tworzyw sztucznych, płytki bipolarne czy płytki drukowane.​

Pomiar i inspekcja omponentów elektronicznych za pomocą ZEISS O-INSPECT duo
Pomiar i inspekcja płyt bipolarnych za pomocą ZEISS O-INSPECT duo
Pomiar i inspekcja wyrobów medycznych wykonanych z tworzyw sztucznych za pomocą ZEISS O-INSPECT duo
Michael Zeller
Michael Zeller Senior Manager Test Equipment Monitoring & Measurement Technology, Zollner Elektronik AG

Mamy teraz znacznie więcej przestrzeni na oglądanie komponentów i nie musimy już wycinać próbek

Zobacz prezentację video funkcjonalności, oprogramowania i najlepszych praktyk

Zobacz ZEISS O-INSPECT duo podzas pracy podczas naszego webinarium produktowego. Posłuchaj ciekawych spostrzeżeń naszych menedżerów produktów, zobacz demonstracje oprogramowania i pierwsze doświadczenia jednego z naszych klientów pilotażowych. Podczas tej sesji dowiesz się, jak połączenie mikroskopii i metrologii w jednym urządzeniu usprawni Twoje procesy zapewniania jakości.

Czy odpowiedzieliśmy na wszystkie Twoje pytania?

Jeśli nie - zapytaj naszych ekspertów. Chętnie na nie odpowiedzą.

Pobierz materiały

Powiązane produkty

ZEISS O-DETECT

optyczna maszyna współrzędnościowa

ZEISS O-INSPECT

Specjalista w każdej dziedzinie

ZEISS VAST XXT

Inny sposób skanowania