![ZEISS PIWeb]({"xsmall":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/poland/stgs/pi_web_animation_still.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.33.0,39,3532,1216.file/pi_web_animation_still.jpg","small":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/poland/stgs/pi_web_animation_still.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.120.0,39,3532,1216.file/pi_web_animation_still.jpg","medium":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/poland/stgs/pi_web_animation_still.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.256.0,39,3532,1216.file/pi_web_animation_still.jpg","large":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/poland/stgs/pi_web_animation_still.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.341.0,39,3532,1216.file/pi_web_animation_still.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/poland/stgs/pi_web_animation_still.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.427.0,39,3532,1216.file/pi_web_animation_still.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/poland/stgs/pi_web_animation_still.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.480.0,39,3532,1216.file/pi_web_animation_still.jpg","max":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/poland/stgs/pi_web_animation_still.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1920.640.0,39,3532,1216.file/pi_web_animation_still.jpg"} "Od prostej prezentacji wyników do zaawansowanych analiz.")
webinarium | 31 października 2025 | godz. 10:00
ZEISS PiWeb
Od prostej prezentacji wyników
ZEISS PiWeb
Od prostej prezentacji wyników
do zaawansowanych analiz
Zarządzanie danymi jakościowymi
Jak ZEISS PiWeb może usprawnić procesy produkcji?
Webinarium odbyło się 31 października 2025 roku. Podczas prezentacji inżynierowie ZEISS opowiedzieli o naszym zaawansowanym oprogramowaniu do raportowania i zarządzania danymi jakościowymi ZEISS PiWeb.
Oprogramowanie ZEISS PiWeb pomaga powiązać wyniki metrologiczne pochodzące z różnych technologii pomiarowych z decyzjami podejmowanymi w hali produkcyjnej. Umożliwia to efektywne śledzenie jakości produkcji na wszystkich maszynach pomiarowych.
Oprogramowanie pozwala rejestrować i analizować wyniki pomiarów:
✅ stykowych
✅ optycznych
✅ ręcznych
✅ CT
Webinarium poprowadzili nasi specjaliści ZEISS Polska - Robert Sowiński i Mirosław Ćwiek.