
ZEISS Industrial Quality Solutions
Nasze rozwiązania, Twój sukcesTwój partner w dziedzinie rozwiązań metrologii przemysłowej
ZEISS Industrial Quality Solutions jest wiodącym producentem wielowymiarowych rozwiązań metrologicznych. Obejmują one współrzędnościowe maszyny pomiarowe, systemy optyczne i wielosensorowe, systemy mikroskopowe do zapewniania jakości w przemyśle, jak również oprogramowanie metrologiczne dla branży motoryzacyjnej, lotniczej, inżynierii mechanicznej, tworzyw sztucznych oraz technologii medycznej. Uzupełnieniem naszego portfolio są innowacyjne technologie takie jak pomiary rentgenowskie 3D w kontroli jakości. Ponadto ZEISS Industrial Quality Solutions oferuje szeroki zakres usług dzięki centrach kompetencyjnych ZEISS Quality Excellence Center zlokalizowanych na całym świecie. Siedziba firmy znajduje się w Oberkochen. Zakłady produkcyjne oraz centra rozwojowe poza terytorium Niemiec znajdują się także w Minneapolis w USA, Szanghaju w Chinach i Bangalore w Indiach. ZEISS Industrial Quality Solutions jest częścią segmentu Industrial Quality & Research.

Dekarbonizacja jest jednym z kluczowych czynników dla transformacji rynku
100 lat metrologii przemysłowej w ZEISS
Zobacz naszą podróż w czasie-
1919
Powstanie “Działu Pomiarów Precyzyjnych”
Prezentacja pierwszych przyrządów pomiarowych na targach wiosennych w Lipsku.
-
1920
Pierwsze duże urządzenia: optymetr, warsztatowe mikroskopy pomiarowe i przyrządy pomiarowe
Nowo opracowany optymetr firmy ZEISS w 1920 r. był prawdopodobnie pierwszym urządzeniem pomiarowym, w którym zintegrowano optykę z mechaniką precyzyjną.
-
1926
Pierwszy uniwersalny mikroskop pomiarowy
-
1953
Nowy uniwersalny mikroskop pomiarowy
-
1963
Pierwsze cyfrowe urządzenia pomiarowe
W latach 60. XX wieku nastąpiła rewolucja w technice pomiarowej: pojawiły się przyrządy pomiarowe z numeryczno-elektronicznym wyjściem wartości pomiarowej.
-
1973
UMM 500: Wysokoprecyzyjna trój-współrzędnościowa maszyna pomiarowa
W 1973 roku pojawiła się pierwsza wysoce precyzyjna współrzędnościowa maszyna pomiarowa 3D z głowicą pomiarową, zintegrowanym stołem, komputerem i własnym oprogramowaniem pomiarowym.
-
1977
Nazwa „Działu Pomiarów Precyzyjnych” została zmieniona na „Dział Metrologii Przemysłowej (IMT)”.
Nazwa „Działu Pomiarów Precyzyjnych” została zmieniona na "Dział Metrologii Przemysłowej (IMT)"
-
1978
Seria WMM do zastosowań produkcyjnych
-
1983
Pierwszy dostawca systemu wymiany głowicy pomiarowej w trybie CNC dla współrzędnościowych maszyn pomiarowych
-
1985
Pierwsze programowanie CAD procedur pomiarowych CNC
Skrócenie czasu pomiaru dzięki procedurom CAA i programowaniu CAD.
-
1995
ZEISS CALYPSO
ZEISS CALYPSO: rewolucyjna koncepcja oprogramowania pomiarowego opartego na systemie CAD.
-
2001
ZEISS CenterMax
Urządzenie pomiarowe do pomiarów produkcyjnych w stałej temperaturze, np. w laboratorium pomiarowym.
-
2006
ZEISS METROTOM
Tomografy komputerowe do zastosowań przemysłowych i metrotomografia w zakresie mikrometrów.
-
2014
The ZEISS XENOS
Współrzędnościowa maszyna pomiarowa wykorzystuje innowacyjną technologię, co pozwala wkroczyć na nowe obszary precyzji i dynamiki, wyznaczając tym samym nowe standardy.