ZEISS INSPECT X-Ray: Opcje produktu
Wybieraj spośród elastycznych, modułowych rozwiązań do kontroli wizualnej, metrologii i NDT - dostosowanych do Twoich potrzeb w zakresie zapewniania jakości.
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/zeiss-insp-xray_multiview.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.75.237,0,1679,1082.file/zeiss-insp-xray_multiview.jpg","small":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/zeiss-insp-xray_multiview.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.270.237,0,1679,1082.file/zeiss-insp-xray_multiview.jpg","medium":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/zeiss-insp-xray_multiview.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.576.237,0,1679,1082.file/zeiss-insp-xray_multiview.jpg","large":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/zeiss-insp-xray_multiview.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.768.237,0,1679,1082.file/zeiss-insp-xray_multiview.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/zeiss-insp-xray_multiview.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.960.237,0,1679,1082.file/zeiss-insp-xray_multiview.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/zeiss-insp-xray_multiview.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.1080.237,0,1679,1082.file/zeiss-insp-xray_multiview.jpg","max":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/zeiss-insp-xray_multiview.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1442.1082.237,0,1679,1082.file/zeiss-insp-xray_multiview.jpg"} "ZEISS INSPECT X-Ray do kontroli wizualnej")
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/multiview_1920_1440.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.75.0,0,1917,1439.file/multiview_1920_1440.jpg","small":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/multiview_1920_1440.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.270.0,0,1917,1439.file/multiview_1920_1440.jpg","medium":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/multiview_1920_1440.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.576.0,0,1917,1439.file/multiview_1920_1440.jpg","large":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/multiview_1920_1440.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.768.0,0,1917,1439.file/multiview_1920_1440.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/multiview_1920_1440.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.960.0,0,1917,1439.file/multiview_1920_1440.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/multiview_1920_1440.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.1080.0,0,1917,1439.file/multiview_1920_1440.jpg","max":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/multiview_1920_1440.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1917.1438.0,0,1917,1439.file/multiview_1920_1440.jpg"} "Metrologia wymiarowa")
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/defect-analysis_1920_1440.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.75.0,0,1922,1442.file/defect-analysis_1920_1440.jpg","small":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/defect-analysis_1920_1440.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.270.0,0,1922,1442.file/defect-analysis_1920_1440.jpg","medium":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/defect-analysis_1920_1440.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.576.0,0,1922,1442.file/defect-analysis_1920_1440.jpg","large":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/defect-analysis_1920_1440.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.768.0,0,1922,1442.file/defect-analysis_1920_1440.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/defect-analysis_1920_1440.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.960.0,0,1922,1442.file/defect-analysis_1920_1440.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/defect-analysis_1920_1440.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.1080.0,0,1922,1442.file/defect-analysis_1920_1440.jpg","max":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/defect-analysis_1920_1440.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1920.1440.0,0,1922,1442.file/defect-analysis_1920_1440.jpg"} "Zautomatyzowane badania nieniszczące (NDT)")
Poznaj swoje możliwości
Podczas gdy licencja ZEISS INSPECT X-Ray oferuje podstawę dla kontroli wizualnych, można elastycznie rozszerzać oprogramowanie i korzystać z zaawansowanych funkcji dla metrologii i NDT.
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/visual-inspection_black_1080_1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.file/visual-inspection_black_1080_1080.jpg","small":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/visual-inspection_black_1080_1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.file/visual-inspection_black_1080_1080.jpg","medium":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/visual-inspection_black_1080_1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.768.file/visual-inspection_black_1080_1080.jpg","large":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/visual-inspection_black_1080_1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.1024.file/visual-inspection_black_1080_1080.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/visual-inspection_black_1080_1080.jpg/_jcr_content/renditions/original./visual-inspection_black_1080_1080.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/visual-inspection_black_1080_1080.jpg/_jcr_content/renditions/original./visual-inspection_black_1080_1080.jpg","max":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/visual-inspection_black_1080_1080.jpg/_jcr_content/renditions/original./visual-inspection_black_1080_1080.jpg"} "Ustaw fundamenty i zobacz wnętrze z precyzją")
Ustaw fundamenty i zobacz wnętrze z precyzją
Licencja ZEISS INSPECT X-Ray zapewnia zaawansowane funkcje kontroli wizualnej, w tym widoki ortogonalne, nawigację po ścieżce 3D, obracanie i rozwijanie widoków przekrojów – to podstawa analizy danych CT.
Co wchodzi w skład zestawu?
- Wszystkie funkcje ZEISS INSPECT Pro, np. skrypty Python, projekty sceniczne i siatki
- Import danych CT
- Pełna kontrola wizualna z funkcją multiview
- Podstawowa poligonizacja do wyrównywania i prostych pomiarów
- Segmentacja wolumenu
- Automatyzacja
- Eksport wyników ze stosami wideo lub obrazów
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/advanced-polygonization_1080_1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.0,0,1080,1080.file/advanced-polygonization_1080_1080.jpg","small":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/advanced-polygonization_1080_1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.0,0,1080,1080.file/advanced-polygonization_1080_1080.jpg","medium":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/advanced-polygonization_1080_1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.768.0,0,1080,1080.file/advanced-polygonization_1080_1080.jpg","large":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/advanced-polygonization_1080_1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.1024.0,0,1080,1080.file/advanced-polygonization_1080_1080.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/advanced-polygonization_1080_1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1080.1080.0,0,1080,1080.file/advanced-polygonization_1080_1080.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/advanced-polygonization_1080_1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1080.1080.0,0,1080,1080.file/advanced-polygonization_1080_1080.jpg","max":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/advanced-polygonization_1080_1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1080.1080.0,0,1080,1080.file/advanced-polygonization_1080_1080.jpg"} "Zaawansowana poligonizacja dla precyzyjnej metrologii wymiarowej")
Zaawansowana poligonizacja dla precyzyjnej metrologii wymiarowej
Aplikacja Advanced X-Ray Metrology zapewnia precyzję każdego pomiaru dzięki zweryfikowanej poligonizacji jedno- i wielomateriałowej. Twórz dokładne siatki jako podstawę do szczegółowych analiz, nawet w przypadku złożonych skanów CT z niejednolitymi wartościami szarości. Zaawansowane rozwiązanie zapewnia wiarygodne wyniki, wspierając precyzyjne procesy metrologii wymiarowej.
Co wchodzi w skład zestawu?
Zaawansowana poligonizacja, która jest podstawą:
- Kierowana inspekcja GD&T
- Porównanie wartości rzeczywistej i nominalnej
- Grubość ścianki, odkształcenia i analiza trendów
- Pełna inspekcja powierzchni i struktur wewnętrznych
- Pomiar punkt po punkcie
- Przekroje i krzywe
Zaawansowane wykrywanie i ocena usterek
Pewne wykrywanie usterek. Przeprowadzaj kompleksowe inspekcje wewnętrzne, w tym zaawansowane analizy porowatości P202 i P203, aby zidentyfikować pory, pęknięcia i pozostałości bez uszkadzania komponentów. Opcjonalne funkcje sztucznej inteligencji zwiększają szybkość i precyzję, zapewniając jednocześnie najwyższe bezpieczeństwo i niezawodność procesów zapewniania jakości.
Co wchodzi w skład zestawu?
- Zaawansowana analiza wad całej części i szczegółów (np. objętości lub średnicy wady, odległości od powierzchni zewnętrznej lub kulistości)
- Kierowana analiza z zgodna z dyrektywami BDG P202 i P203 dostępna w sklepie ZEISS Quality Software Store
- Znajdź otwarte pory i pory blisko zewnętrznej powłoki
- Wykrywanie pustych przestrzeni, pęknięć, wtrąceń i pozostałości obcych cząstek
- Analiza szczelin, rozpórek i zagłębień
![Oprogramowanie inspekcyjne ZEISS Automated Defect Detection]({"xsmall":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/automated-defect-detection/zeiss_software_zadd_header_1000x1000.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.file/zeiss_software_zadd_header_1000x1000.jpg","small":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/automated-defect-detection/zeiss_software_zadd_header_1000x1000.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.file/zeiss_software_zadd_header_1000x1000.jpg","medium":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/automated-defect-detection/zeiss_software_zadd_header_1000x1000.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.768.file/zeiss_software_zadd_header_1000x1000.jpg","large":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/automated-defect-detection/zeiss_software_zadd_header_1000x1000.jpg/_jcr_content/renditions/original./zeiss_software_zadd_header_1000x1000.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/automated-defect-detection/zeiss_software_zadd_header_1000x1000.jpg/_jcr_content/renditions/original./zeiss_software_zadd_header_1000x1000.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/automated-defect-detection/zeiss_software_zadd_header_1000x1000.jpg/_jcr_content/renditions/original./zeiss_software_zadd_header_1000x1000.jpg","max":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/automated-defect-detection/zeiss_software_zadd_header_1000x1000.jpg/_jcr_content/renditions/original./zeiss_software_zadd_header_1000x1000.jpg"} "ZEISS Automated Defect Detection - oprogramowanie inspekcyjne")
![ZEISS INSPECT X-Ray]({"xsmall":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/zeiss_inspect_xray_1920x1920.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.file/zeiss_inspect_xray_1920x1920.jpg","small":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/zeiss_inspect_xray_1920x1920.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.file/zeiss_inspect_xray_1920x1920.jpg","medium":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/zeiss_inspect_xray_1920x1920.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.768.file/zeiss_inspect_xray_1920x1920.jpg","large":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/zeiss_inspect_xray_1920x1920.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.1024.file/zeiss_inspect_xray_1920x1920.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/zeiss_inspect_xray_1920x1920.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.1280.file/zeiss_inspect_xray_1920x1920.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/zeiss_inspect_xray_1920x1920.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.1440.file/zeiss_inspect_xray_1920x1920.jpg","max":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-inspect/zeiss-inspect-x-ray/zeiss_inspect_xray_1920x1920.jpg/_jcr_content/renditions/original./zeiss_inspect_xray_1920x1920.jpg"} "ZEISS INSPECT X-Ray")