
Zaawansowane analizy statystyczne w ZEISS PiWeb
Łatwe tworzenie zaawansowanych statystyk


Badania GR&R


Wykresy kontrolne
Oceniaj dane procesowe za pomocą wbudowanych wykresów dla x̅, S (odchylenie standardowe) i R (zakres).


Badania zdolności
Wykonuj szeroki zakres badań zdolności procesu, w tym Cm, Cmk, Cp, Cpk, Po, Pok itp.
Więcej narzędzi
Twórz raporty zawierające inne przydatne narzędzia, takie jak wykresy pudełkowe, histogramy, linie trendu i wykresy słupkowe.