Przejdź do treści głównej
Industrial Quality Solutions
wstecz
Industrial Quality Solutions

ZEISS INSPECT X-Ray 2026

Nowe funkcje
Zawartość strony

ZEISS INSPECT X-Ray 2026 – nowe funkcje

Nowa aktualizacja oprogramowania oferuje wiele nowych funkcji i zoptymalizowanych możliwości zapewniających wyższą produktywność. Odblokowanie możliwości i informacji związanych z danymi objętościowymi w oparciu o wydajny system ZEISS INSPECT.

Zablokowana zawartość stron trzecich

Odtwarzacz wideo został zablokowany w związku z Twoimi preferencjami plików cookie. Aby zmienić ustawienia i odtworzyć wideo, kliknij poniższy przycisk i wyraź zgodę na użycie „funkcjonalnych” technologii śledzenia.

Automatyczna regulacja jasności i kontrastu 

Zoptymalizuj inspekcje wizualne bez wysiłku. Wystarczy jedno kliknięcie, aby automatycznie dostosować jasność i kontrast dla wybranego obszaru w obrazach wielowidokowych. Ta intuicyjna funkcja usprawnia wizualizację, zwłaszcza w przypadku wielomateriałowych zestawów danych, zapewniając precyzyjną i wydajną ocenę jakości TK. 

Zablokowana zawartość stron trzecich

Odtwarzacz wideo został zablokowany w związku z Twoimi preferencjami plików cookie. Aby zmienić ustawienia i odtworzyć wideo, kliknij poniższy przycisk i wyraź zgodę na użycie „funkcjonalnych” technologii śledzenia.

Eksportowanie widoków sekcji jako filmów lub stosów obrazów

Łatwo udostępniaj wyniki inspekcji, eksportując widoki sekcji jako filmy lub stosy obrazów. Przechwytywanie danych objętościowych, defektów, geometrii lub powierzchni w wybranym widoku przekroju i eksport w formatach takich jak MP4, PNG lub TIFF. Upraszcza to udostępnianie raportów, umożliwiając odbiorcom przeglądanie wyników bez specjalistycznego oprogramowania lub dużych zbiorów danych. 

Rozdzielanie wielu części na etapy

Automatyczne dzielenie woluminów ze skanowania wsadowego na etapy, wszystko w ramach jednego projektu, umożliwiając płynny przepływ pracy dla wieloczęściowych inspekcji. Funkcja ta upraszcza złożone inspekcje, oddzielając zbiorcze skany kilku części i oznaczając je w celu usprawnienia analizy i raportowania. Wydajne wyodrębnianie i porządkowanie poszczególnych komponentów, pochodzących na przykład z formy z wieloma wnękami, bez konieczności stosowania obejść.

Elastyczna konfiguracja licencji

ZEISS INSPECT X-Ray oferuje teraz modułowe rozwiązania dostosowane do konkretnych wymagań. Wybierz spośród dedykowanych licencji do kontroli wizualnej, metrologii wymiarowej lub badań nieniszczących. Ta elastyczność pozwala skupić się na narzędziach, które mają największe znaczenie dla przepływu pracy, zapewniając opłacalne i spersonalizowane podejście do kontroli rentgenowskiej 3D. 

Wsparcie dla ZEISS METROTOM 800 320 kV

ZEISS INSPECT X-Ray obsługuje teraz akwizycję danych za pomocą ZEISS METROTOM 800 320 kV, umożliwiając bezproblemową integrację z procesami kontroli CT. Korzystając z jednego rozwiązania programowego od pozyskiwania danych, przez analizę, aż po raportowanie, korzystasz z kompleksowego przepływu pracy, który zmniejsza złożoność i zapewnia spójne, wysokiej jakości wyniki.

Skorzystaj z wydajnego systemu ZEISS INSPECT

  • Ulepszona funkcjonalność GD&T 

    Simultaneous Requirement (SIM) umożliwia grupową ocenę wielu kontroli GD&T, dostępnych dla tolerancji położenia i profilu powierzchni. Obsługa normy ISO 5459:2024 jako domyślnej dla płaskich elementów odniesienia zapewnia zgodność z aktualnymi standardami – teraz można ją wybrać w oknie dialogowym systemu odniesienia.

  • Rozszerzone opcje importu CAD

    ZEISS INSPECT X-Ray obsługuje teraz najnowsze formaty CAD, w tym na przykład 3DXML 2025, Catia 2025, NX 2412 i SolidWorks 2025. Płynnie importuj zaktualizowane modele z wiodącego oprogramowania, zapewniając kompatybilność i usprawnione przepływy pracy.

  • Eksport danych inspekcji w formacie Q-DAS 

    Spełnij wymagania klientów dzięki certyfikowanym opcjom eksportu Q-DAS dla Advanced Quality Data Exchange Format (AQDEF) w wersji 6.0. Łatwo udostępniaj wyniki kontroli w tym powszechnie używanym formacie, zapewniając kompatybilność i elastyczność w różnych procesach zarządzania jakością.

  • Ulepszone API Python

    Ulepszone skrypty z elementami skryptowymi opartymi na usługach, które mogą obliczać szybciej i są lepiej zintegrowane z oprogramowaniem. Poprawa wydajności niestandardowych przepływów pracy inspekcji z częstymi wywołaniami skryptów. Usprawnij automatyzację i wydajniej obsługuj złożone procesy dzięki tej aktualizacji. 

  • Ulepszenia klastra

    Uproszczenie przepływu pracy dzięki czystszym widokom 3D i ulepszonym podglądom. Korzystaj z nowych opcji definiowania wzorców kopiowania klastrów. Lepsza obsługa propagacji zmian w elementach klastra do istniejących kopii klastra. 

Co nowego w ZEISS INSPECT X-Ray 2026?

Dowiedz się wszystkiego o najważniejszych funkcjach i ulepszeniach najnowszej wersji oprogramowania. Wystarczy się zalogować lub utworzyć ZEISS ID.

Obejrzyj filmy

Poprzednie wersje oprogramowania

Aktualizacje poprzednich wersji ZEISS INSPECT X-Ray

  • Widok współdzielony

    Odkryj sposoby wizualizacji i analizy złożonych geometrii. Odwiń cylindryczne i stożkowe fragmenty do widoku płaskiego lub podążaj ścieżką 3D w swoich danych tomografii komputerowej (CT). Ulepszona wizualizacja przekrojów objętościowych z krzywą jasności nadaje nowy wymiar wizualnej kontroli danych z tomografii komputerowej.

  • Części wielomateriałowe

    W poprzedniej wersji udostępniliśmy nowe metody ręcznego definiowania obszaru zainteresowania. Interaktywne tworzenie regionów objętościowych usprawnia ręczne procesy segmentacji danych z tomografii komputerowej. Dzięki koncepcji podczęści, części wielomateriałowego lub wieloskładnikowego zestawu danych współdzielą powiązaną objętość, dopasowanie i ROI, co poprawia komfort użytkownika w przypadku projektów i zespołów wielomateriałowych.

  • Inteligentne objętościowe wykrywanie wad

    W poprzedniej wersji oferujemy ulepszone wsparcie dla najbardziej uznanego standardu oceny wad w odlewach z metali lekkich za pomocą CT – P203, dodając możliwość korzystania z dowolnie ukształtowanych ROI do lokalnych ocen i współczynnika Q.

  • Udoskonalenia GD&T

    W poprzedniej wersji najnowsze standardy ISO i ASME GD&T są obsługiwane dla całego projektu. Ulepszenia obejmują nowe zintegrowane filtry specjalistyczne GD&T dla prymitywów geometrycznych i usprawnienia PMI, takie jak TED, zarządzanie danymi i parsowanie układu odniesienia.

  • Wydajność

    W poprzedniej wersji poprawiliśmy wydajność wielu często używanych funkcji CT, w tym na przykład filtrowania objętości, które jest teraz do 50 razy szybsze lub poligonizacji, która jest teraz do 20 razy szybsza.

  • Region zainteresowania

    Tegoroczna wersja oferuje nowe możliwości w zakresie cyfrowej segmentacji na potrzeby przetwarzania objętościowego. Możliwe jest sprawdzanie poszczególnych elementów z określonymi tolerancjami lub cyfrowe segmentowanie zespołów na poszczególne komponenty. Uzyskaj dokładne informacje o jakości dla każdego interesującego elementu, bez względu na jego złożoność. Nie ma potrzeby fizycznego demontażu lub niszczenia części.

  • Widok współdzielony

    Uzyskaj bardziej wydajną wizualizację objętości dzięki równoległej wizualizacji wielu sekcji objętości wraz z innymi elementami. Poruszaj się po częściach w różnych perspektywach lub łącz widoki przekrojów z reprezentacjami 3D i tabelami.

  • Zoptymalizowane wykrywanie defektów oparte na pomiarach objętościowych

    Ta wersja zawiera również ocenę porów lub wtrąceń, nawet jeśli dane nie są optymalne, z podejściem do wykrywania wad opartym na uczeniu maszynowym z segmentacją ZADD Segmentation dla wymagających aplikacji.

  • Aplikacje ZEISS PiWeb do zaawansowanego raportowania

    Łatwiejsze podejmowanie decyzji na hali produkcyjnej dzięki centralnemu przechowywaniu danych. Przechwytywanie, łączenie i analizowanie wyników pomiarów stykowych, optycznych, ręcznych lub z tomografii komputerowej. Otwarty interfejs (API) oferuje możliwość integracji ze środowiskiem systemowym w celu wydajnego śledzenia jakości produkcji na wszystkich maszynach pomiarowych.

  • Ulepszenia w zakresie kształtu/położenia (GD&T)

    Zapewniono automatyczne numerowanie kontroli tolerancji. Możliwe jest również użycie filtrów GD&T. Metody filtrowania profilowego i powierzchniowego zgodne z normą ISO 16610 gwarantują zgodność z aktualnymi normami ISO. Osiągnij nowy poziom elastyczności w zakresie typów danych. Oprogramowanie działa z danymi siatki i chmury punktów.

Znajdź idealne rozwiązanie dla siebie

  • Najnowsze aktualizacje, serwis i wsparcie: w ramach kontraktu SMA

    Natychmiastowe korzyści z nowych funkcji lub opcji: dzięki SMA masz dostęp do najnowszych aktualizacji oprogramowania i możesz polegać na wysokiej jakości w dłuższej perspektywie. Masz bezpośredni dostęp do specjalistycznej wiedzy na temat zastosowania, ukierunkowanej pomocy technicznej w zakresie oprogramowania oraz ciągłych aktualizacji oprogramowania i pakietów serwisowych – przy niższych cenach aktualizacji.

    Aktualizacja oprogramowania i wsparcie techniczne

  • Rozpocznij pracę z ZEISS INSPECT X-Ray

    Wejdź do świata inspekcji rentgenowskich z ZEISS INSPECT. Darmowa licencja, zakup wersji Pro lub wersja próbna – to zależy od Ciebie.

    Zacznij teraz

Skontaktuj się z nami

Chcesz dowiedzieć się więcej o naszych produktach lub usługach? Chętnie udzielimy więcej informacji i przeprowadzimy prezentację - zdalnie lub na miejscu.

ZEISS Quality Tech Guide

Pomoc online zawierająca informacje techniczne na temat oprogramowania ZEISS Quality Software

ZEISS Metrology Portal

Cyfrowy punkt dostępu do wszystkich usług metrologicznych

ZEISS Academy Metrology

Indywidualne szkolenia z dziedziny metrologii

Skontaktuj się z nami

Uzyskaj ofertę, pobierz bezpłatną wersję próbną oprogramowania lub skontaktuj się w sprawie usług serwisowych i wsparcia już teraz

Wczytywanie formularza...

/ 4
Następny krok:
  • Interest Inquiry
  • Personal Details
  • Company Details

If you want to have more information on data processing at ZEISS please refer to our data privacy notice.