ZEISS METROTOM
800 320 kV

ZEISS METROTOM 800 320 kV oferuje dużą siłę przenikania części z gęstych materiałów i zapewnia wiarygodne wyniki z wyjątkową jakością skanów dzięki wysokonapięciowej lampie rentgenowskiej z mikrofokusem. Dzięki mocy wyjściowej do 500 W i minimalnej wielkości plamki wynoszącej zaledwie kilka mikronów zapewnia idealny balans między szybkością oraz rozdzielczością i idealnie nadaje się zarówno do szczegółowego obrazowania, jak i szybkich, zatwierdzonych metrologicznie skanów. Oprogramowanie ZEISS INSPECT X-Ray zapewnia płynny, intuicyjny przepływ pracy, od akwizycji skanów do końcowej analizy.

ZEISS METROTOM 800 320 kV oferuje maksymalną elastyczność, obsługując wszystko, od skomplikowanych łopatek turbin czy implantów medycznych po duże złącza i większe wielomateriałowe części elektroniczne. Dzięki źródłu promieniowania rentgenowskiego o wysokim napięciu i dostosowywanym ustawieniom skanowania system zapewnia optymalną moc przenikania i dokładność dostarczając precyzyjne wyniki dla różnych rozmiarów części i materiałów. Jest to idealne rozwiązanie zarówno do inspekcji, jak i pomiarów w szerokim zakresie zastosowań przemysłowych.

Dzięki ścisłym specyfikacjom metrologicznym i wysokim napięciu ZEISS METROTOM 800 320 kV idealnie nadaje się do wymagających zastosowań, takich jak skanowanie łopatek turbin lotniczych, implantów medycznych i elementów stalowych. Spełnia standardy VDI/VDE 2630 1.3, zapewniając najwyższą dokładność pomiaru zarówno w przypadku kontroli jakości, jak i krytycznych inspekcji złożonych geometrii.

Lampa rentgenowska w naszym systemie działa przy wysokim napięciu w sposób ciągły, nie wymagając fazy schładzania. Zapewnia to maksymalny czas pracy, umożliwiając skanowanie bez opóźnień. ZEISS METROTOM 800 320 kV oferuje stałą wydajność i produktywność, niezależnie od tego, czy chodzi o długotrwałe inspekcje, czy obsługę środowisk at-line o wysokiej przepustowości.

Krótka odległość między źródłem a detektorem umożliwia skanowanie do czterech razy szybciej niż w przypadku innych systemów ZEISS METROTOM, co jeszcze bardziej skraca czas skanowania w zastosowaniach o wysokiej przepustowości. Dodatkowo ZEISS scatterControl minimalizuje artefakty wywołane promieniowaniem rozproszonym, zapewniając ostre obrazy o wysokim kontraście nawet w przypadku gęstych materiałów – idealne połączenie szybkości i jakości obrazu dla wymagających inspekcji przemysłowych.