ZEISS METROTOM 6 scout

METROTOM 6 scout​

Inspekcja i pomiary metodą tomografii komputerowej z wysoką rozdzielczością

ZEISS METROTOM 6 scout pozwala digitalizować złożone części, w tym geometrie wewnętrzne, z możliwie najwyższym poziomem szczegółowości. Użytkownik otrzymuje kompletny obraz 3D do analizy GD&T czy porównań danych nominalnych i aktualnych. Przemysłowy tomograf CT świetnie sprawdza się szczególnie w digitalizacji małych części z tworzyw sztucznych.

  • Niezwykle wysoka rozdzielczość
  • Wysoki poziom precyzji
  • Automatyczne pozycjonowanie obiektów
  • Wszystko w jednym oprogramowaniu

Pomiary w wysokiej rozdzielczości dla części z tworzyw sztucznych

ZEISS Metrotom 6 scout jest idealnym rozwiązaniem do nieniszczącej inspekcji i pomiarów 3D. Zaawansowana technologia pomiarowa i wydajny przepływ pracy zapewniają maksymalną niezawodność i precyzję wykrywania wad.
Zobacz to, czego nie widzą inne systemy
Zobacz to, czego nie widzą inne systemy

Zobacz to, czego nie widzą inne systemy

Rozdzielczość

ZEISS METROTOM 6 scout zapewnia wysoki poziom ostrości detali podczas digitalizacji: do akwizycji danych pomiarowych system wykorzystuje wysokiej rozdzielczości detektor rentgenowski 3k, a każda część jest mierzona w możliwie najlepszej pozycji pomiarowej, a zatem zawsze w możliwie najwyższej rozdzielczości. Wynik jest widoczny na obrazie: po lewej stronie znajdują się dane pomiarowe wygenerowane przez ZEISS METROTOM 6 scout, natomiast po prawej przez standardowy system.

Gwarancja wysokiej precyzji

Gwarancja wysokiej precyzji

Dokładność

Do generowania precyzyjnych danych pomiarowych 3D ZEISS METROTOM 6 scout wykorzystuje zaawansowane operacje matematyczne. W trakcie całego procesu pomiaru system łączy doskonale powiązane algorytmy z cyfrowym modelowaniem pomieszczenia pomiarowego. Ponadto tomograf oferuje zoptymalizowaną stabilność mechaniczną wszystkich komponentów istotnych dla wykonania pomiaru. Krótko mówiąc: na podstawie wyników pomiarów można ocenić jakość części w niezawodny i bardzo precyzyjny sposób oraz przeprowadzić dalszą analizę.

Automatyczne pozycjonowanie części

5-osiowa kinematyka ze zintegrowanym stołem centrującym zapewnia optymalne pozycjonowanie części w objętości pomiarowej. Wystarczy umieścić obiekt w pomieszczeniu pomiarowym maszyny, a resztę wykona oprogramowanie.

  • ZEISS INSPECT X-Ray

    Kompleksowa analiza danych CT

    Oprogramowanie ZEISS INSPECT X-Ray oferuje narzędzia do obsługi całego procesu – od akwizycji danych, rekonstrukcji, po łatwą analizę. Umożliwia kompleksową ocenę danych wolumetrycznych – zautomatyzowaną lub własną – i jest odpowiednie nawet dla początkujących. Geometrie, jamy skurczowe, czy wewnętrzne struktury i zespoły mogą być analizowane z dużą precyzją. Nawet niewielkie wady stają się widoczne dzięki obrazom przekrojów. Można również załadować dane wolumetryczne kilku komponentów do projektu, przeprowadzić analizę trendu i porównać wyniki z danymi CAD – wszystko to w jednym oprogramowaniu.

  • Zautomatyzowane wykrywanie wad za pomocą ZADD Segmentation

    Sztuczna inteligencja w tomografii komputerowej

    Aplikacja ZADD Segmentation dla ZEISS INSPECT X-Ray wykrywa nawet małe i niewyraźne wady niezawodnie, szybko i automatycznie. Wykorzystując zaawansowane modele AI, ZADD Segmentation może zlokalizować wady obecne w skanie CT. Dostępnych jest kilka modeli AI do różnych zastosowań, w tym odlewów, części formowanych wtryskowo i komponentów drukowanych.

  • ZEISS PiWeb

    Od danych jakościowych po znaczące wyniki

    Oprogramowanie do raportowania i zarządzania danymi jakościowymi ZEISS PiWeb pomaga połączyć wyniki pozyskane z użyciem różnych technik pomiarowych z decyzjami podejmowanymi na hali produkcyjnej – co umożliwia efektywne śledzenie jakości produkcji i zapewnia natychmiastowe wyniki. ZEISS PiWeb pozwala wykonywać badania GR&R, kontrolować zarządzanie danymi jakościowymi, pracę z danymi pozyskanymi ręcznie, tworzyć zaawansowane statystyki i korzystać z różnych gotowych do użycia standardowych szablonów raportów.

Funkcje oprogramowania do akwizycji obrazu i rekonstrukcji

Wydajne skanowanie CT za pomocą ZEISS INSPECT X-Ray
  • Multi Material Artifact Reduction

    Multi Material Artifact Reduction

    Zobacz więcej szczegółów w obszarze przejścia między metalem a tworzywem sztucznym: Multi Material Artifact Correction znacząco redukuje artefakty występujące podczas skanowania elementów wykonanych z różnych materiałów i o różnej grubości, zwłaszcza w przypadku elementów łączonych z metalu i tworzywa sztucznego.

  • Pionowe rozszerzenie pola widzenia

    Pionowe rozszerzenie pola widzenia

    Precyzyjny system pozycjonowania, który wykorzystuje naszą technologię z zakresu pomiarów stykowych, obsługuje komponenty o większym rozmiarze - do 400 mm wysokości. Oznacza to, że duże komponenty mogą zostać uchwycone w całości w jednym zautomatyzowanym procesie, eliminując potrzebę czasochłonnej zmiany pozycji i ustawienia przez użytkownika.

  • Skanowanie po półokręgu

    Skanowanie po półokręgu

    Semi-Circle to tryb skanowania, w którym część wykonuje tylko nieco ponad pół obrotu zamiast pełnego obrotu. Umożliwia to skanowanie określonych obszarów części z wyższą rozdzielczością, które w przeciwnym razie byłyby geometrycznie ograniczone przez pełny obrót.

  • Rozdzielenie

    Rozdzielenie

    Funkcja automatycznego rozdzielenia zwiększa produktywność, skanując wiele komponentów jednocześnie i automatycznie oceniając je oddzielnie, znacznie skracając czas skanowania i interakcji operatora.

ZEISS METROTOM​

Dane techniczne

Kluczowe cechy

Źródło promieniowania rentgenowskiego

225 kV

Detektor rentgenowski

Rozdzielczość: 3008 x 2512 pikseli

Obszar pomiarowy

gł.: 240 mm ​
wys.: 400 mm​

Rozmiar woksela

2 µm - 80 µm​

Wymiary

wys. 2210 mm​
szer. 2200 mm​
gł. 1230 mm​

Waga

4800 kg

Obszary zastosowania

Inspekcja pierwszej sztuki, korekta narzędzi, inspekcja podczas bieżącej produkcji​

Elementy inspekcji

struktury wewnętrzne, grubość ścianek, wady materiałowe, pory, jamy skurczowe

Zadania pomiarowe

analiza GD&T, porównanie danych nominalnych i aktualnych, analiza złożenia​

Do pobrania

    • EN_ZEISS METROTOM 6 scout_Flyer_online

      612 KB


    • EN, ZEISS X-Ray Series Brochure_Online

      1 MB


Skontaktuj się z nami

Chcesz dowiedzieć się więcej o naszych produktach lub usługach? Przekażemy Ci szczegółowe informacje i przeprowadzimy prezentację produktu - zdalnie lub na miejscu.

Szukasz więcej informacji?

Napisz do nas. Nasi eksperci skontaktują się z Tobą.

Wczytywanie formularza...

/ 4
Następny krok:
  • Szczegóły zapytania
  • Dane kontaktowe
  • Dane firmy

Jeśli chcesz uzyskać więcej informacji na temat przetwarzania danych w ZEISS, zapoznaj się z zasadami ochrony danych osobowych.