Przejdź do treści głównej
Industrial Quality Solutions
wstecz
Industrial Quality Solutions
ZEISS METROTOM 1500

ZEISS METROTOM 1500

Jeden system CT. Wiele zastosowań.

ZEISS METROTOM 1500 oferuje zaawansowaną technologię tomografii komputerowej, która umożliwia niezawodne wykrywanie i pomiar wad znajdujących się pod powierzchnią. Co wyróżnia ten system: wysoka prędkość i rozdzielczość dostarczanych obrazów zarówno w przypadku małych, jak i dużych części.

  • Szybkie skanowanie
  • Wysoka jakość obrazu CT
  • Dokładność metrologiczna (VDI/VDE 2630 1.3)
  • Opcjonalna certyfikacja DAkkS
  • Kompaktowe wymiary
ZEISS METROTOM 1500
Kontakt

Korzyści

Lepsza jakość obrazu
Lepsza jakość obrazu

Lepsza jakość obrazu

Wysoka rozdzielczość oraz identyfikowalna dokładność

ZEISS METROTOM 1500 charakteryzuje się wyjątkowo wysoką jakością obrazu, która umożliwia wykrywanie nawet niewielkich wad. Funkcjonalności oprogramowania takie jak AMMAR i korekcja utwardzania wiązki czy moduł sprzętowy ZEISS scatterControl zapewniają niekwestionowaną jakość systemu. Tomograf jest także zgodny z wytycznymi VDI/VDE 2630 w zakresie identyfikowalnej dokładności.

Dzięki wysokiemu poziomowi wiedzy metrologicznej firmy ZEISS, wykorzystywanej także w technologii tomografii komputerowej, użytkownik może polegać na wysokiej dokładności pomiarów. System gwarantuje MPE(SD) wynoszący 4.5 + L/50 µm zgodnie z VDI/VDE część 1.3 w całym polu widzenia zapewniając rzetelne wyniki.

Wszechstronność systemu

Wszechstronność systemu

Odpowiedni do różnych części i zastosowań

ZEISS METROTOM 1500 pozwala skanować małe części w bardzo wysokiej rozdzielczości oraz części o średnicy do 615 mm i wysokości do 800 mm wykonując kompletną rekonstrukcję. Jest to osiągane poprzez rozszerzenie pola widzenia zarówno w poziomie, jak i w pionie. Dzięki lampie rentgenowskiej o ogniskowej wynoszącej zaledwie kilka mikrometrów i maksymalnej mocy 500 W, małe części mogą być skanowane z bardzo wysoką rozdzielczością, a duże części mogą być skanowane w krótkim czasie. W rezultacie system ten jest idealny do wielu zastosowań.

Kalibracja DAkkS ​ Twoja droga do niezawodnych pomiarów

Kalibracja DAkkS

Twoja droga do niezawodnych pomiarów

Wysokie standardy jakości w przemyśle motoryzacyjnym, medycznym czy farmaceutycznym często wymagają stosowania akredytowanych procedur inspekcji CT. Gwarantują one obiektywny i zgodny z normami pomiar obiektów według VDI/VDE 2630 część 1.3. Kalibracja DAkkS jest także dostępna dla serii przemysłowych tomografów komputerowych ZEISS METROTOM 1500. Zyskaj dzięki wartości dodanej: oszczędź koszty i zwiększ zaufanie klientów.

Pomysłowa konstrukcja do małych przestrzeni

Pomysłowa konstrukcja do małych przestrzeni

Efektywne wykorzystanie przestrzeni

Porównywalnie niewielka zajmowana powierzchnia i przemyślana budowa drzwi, które umożliwiają zarówno serwis systemu, jak i załadunek części, gwarantują elastyczność instalacji, dzięki czemu tomograf można umieścić w laboratorium pomiarowym nawet gdy przestrzeń jest ograniczona. W celu najlepszego wykorzystania dostępnej przestrzeni zwiększyliśmy objętość pomiarową przy jednoczesnym zmniejszeniu zajmowanej powierzchni: wykonuj pomiary i inspekcje części o wysokości do 870 mm na powierzchni 3,7 x 1,8 m - najlepszy stosunek objętości systemu do objętości części dostępny na rynku.

Inspekcja kompletnych komponentów

Inspekcja kompletnych komponentów

Idealny do pomiarów części z wielu materiałów

W przypadku tradycyjnej techniki pomiarowej ukryte struktury można skontrolować dopiero po czasochłonnym i kosztownym procesie obejmującym zniszczenie próbki warstwa po warstwie. ZEISS METROTOM 1500 jest przemysłowym systemem tomografii komputerowej do pomiaru i inspekcji kompletnych komponentów wykonanych z tworzyw sztucznych i/lub metali lekkich, a nawet miedzi czy stali. ​

ZEISS scatterControl
ZEISS METROTOM scatterControl

ZEISS scatterControl​

Wyjątkowa jakość obrazu CT

Moduł ZEISS scatterControl znacząco poprawia jakość obrazu dostarczanego przez ZEISS METROTOM 1500 dzięki zredukowaniu artefaktów wywołanych promieniowaniem rozproszonym do minimum. Takie rozwiązanie sprzętowe ułatwia późniejsze przetwarzanie danych i ocenę części, w efekcie czego wyznaczanie powierzchni i analiza wad są jeszcze dokładniejsze. ​

Dowiedz się więcej

 Poznaj więcej zalet ZEISS METROTOM 1500​.

Przyszłościowa kontrola jakości

Przyszłościowa kontrola jakości 
Pomiar i inspekcja dużych części

Trzecia generacja ZEISS METROTOM 1500 umożliwia pomiary większych części w ramach jednej rekonstrukcji dzięki zwiększeniu objętości pomiarowej: dzięki nowo zaprojektowanemu systemowi pozycjonowania części o wysokości do 870 mm mieszczą się w tomografie bez konieczności zmiany ich pozycji.
Pobierz broszurę ZEISS METROTOM 1500
Kompaktowe wymiary

W przypadku transportu, instalacji, konserwacji czy zajmowanej przestrzeni w laboratorium klienta dużą wagę ma zasada: im mniejszy system, tym lepiej. Konstrukcja kabiny największego przemysłowego tomografu komputerowego od ZEISS została opracowana tak, aby możliwie najefektywniej wykorzystać przestrzeń - jej powierzchnia wynosi zaledwie 6,7 m2.
Większy komfort obsługi

Przednie drzwi umożliwiają zarówno załadunek części, jak i serwis systemu co sprawia, że ustawianie większych i cięższych komponentów jest znacznie wygodniejsze. Dzięki temu wykonywane pomiary CT są prostsze, bezpieczniejsze i dokładniejsze. Ponieważ ZEISS METROTOM 1500 nie wymaga dużej dodatkowej przestrzeni nad, za, ani po żadnej z bocznych stron, system oferuje dużą elastyczność pod kątem miejsca instalacji.

Zastosowania

  • Przemysł

    Przemysł

    Części z metali lekkich, kompozyty, części wielomateriałowe, części z tworzyw sztucznych i wytwarzane addytywnie.

  • Turbina silnika lotniczego

    Lotnictwo

    Niezawodne skanowanie łopatek z tytanu, stali lub kompozytów w celu spełnienia przemysłowych standardów i wymogów bezpieczeństwa.

  • Spinki uzwojenia w silniku elektrycznym

    Motoryzacja

    Skanowanie układu napędowego, komponentów deski rozdzielczej i aluminiowych odlewów takich jak głowica cylindrów czy obudowa stojana.

  • Medycyna

    Medycyna

    Precyzyjne skanowanie części dla sektora medycznego takich jak iniektory, implanty, inhalatory czy rozruszniki serca.

  • Płyta główna

    Elektronika

    Bezpieczne skanowanie złączy, baterii, płytek PCB i innych komponentów elektrycznych.

  • ZEISS INSPECT X-Ray - kompleksowa analiza danych CT w 3D

    ZEISS INSPECT X-Ray

    Kompleksowa analiza danych CT w 3D

    Łatwe w użyciu oprogramowanie analityczne ZEISS INSPECT X-Ray umożliwia pełną analizę danych CT w 3D – zautomatyzowaną lub dostosowaną do indywidualnych potrzeb i odpowiednią nawet dla początkujących. Geometrie, jamy skurczowe lub wewnętrzne struktury i zespoły mogą być precyzyjnie analizowane. Nawet niewielkie wady stają się widoczne dzięki indywidualnym obrazom przekrojów. Można również załadować dane wolumetryczne kilku komponentów do projektu, przeprowadzić analizę trendu i porównać wyniki z danymi CAD – w jednym oprogramowaniu.

  • ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)

    ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)

    Sztuczna inteligencja w tomografii komputerowej

    Dodatek ZADD w ZEISS INSPECT X-Ray pozwala wykrywać nawet małe i niewyraźne wady niezawodnie, szybko i automatycznie. ZADD wykrywa, lokalizuje i klasyfikuje te wady lub anomalie, analizując je szczegółowo poprzez odczyt skanów tomografii komputerowej. Dodatek do oprogramowania został specjalnie opracowany do części takich jak odlewy, części formowane wtryskowo i komponenty drukowane.

  • ZEISS PiWeb - Od danych jakościowych po znaczące wyniki

    ZEISS PiWeb

    Od danych jakościowych po znaczące wyniki

    Oprogramowanie do raportowania i zarządzania danymi jakościowymi ZEISS PiWeb pomaga połączyć wyniki metrologii z różnych technik pomiarowych z decyzjami podejmowanymi na hali produkcyjnej – dla efektywnego śledzenia jakości produkcji i natychmiastowych wyników. ZEISS PiWeb umożliwia wykonywanie badań GR&R, kontrolowanie zarządzania danymi jakościowymi, pracę z danymi pozyskanymi manualnie, tworzenie zaawansowanych statystyk i korzystanie z różnych gotowych do użycia standardowych szablonów raportów.

Funkcje oprogramowania do akwizycji obrazu i rekonstrukcji

Wydajne skanowanie CT za pomocą ZEISS INSPECT X-Ray
  • Multi Material Artifact Reduction

    Multi Material Artifact Reduction

    Zobacz więcej szczegółów w obszarze przejścia między metalem a tworzywem sztucznym: Multi Material Artifact Correction znacząco redukuje artefakty występujące podczas skanowania elementów wykonanych z różnych materiałów i o różnej grubości, zwłaszcza w przypadku elementów łączonych z metalu i tworzywa sztucznego.

  • Poziome rozszerzenie pola widzenia

    Poziome rozszerzenie pola widzenia

    Wykonuj pomiary części, które są szersze niż detektor: Rozszerzenie pola widzenia w poziomie zwiększa średnicę przechwytywanej objętości nawet o 80%. Umożliwia to skanowanie części, które są znacznie szersze niż detektor, a także pozwala na skanowanie mniejszych części z mniejszymi rozmiarami wokseli, a tym samym wyższą rozdzielczością.

  • Pionowe rozszerzenie pola widzenia

    Pionowe rozszerzenie pola widzenia

    Precyzyjny system pozycjonowania, który wykorzystuje naszą technologię z zakresu pomiarów stykowych, pozwolił zwiększyć wysokość rekonstruowanych w systemie komponentów do 870 mm. Oznacza to, że duże komponenty mogą zostać uchwycone w całości w jednym zautomatyzowanym procesie, eliminując potrzebę czasochłonnej zmiany pozycji i ustawienia przez użytkownika.

  • Skanowanie po półokręgu

    Skanowanie po półokręgu

    Semi-Circle to tryb skanowania, w którym część wykonuje tylko nieco ponad pół obrotu zamiast pełnego obrotu. Umożliwia to skanowanie określonych obszarów części z wyższą rozdzielczością, które w przeciwnym razie byłyby geometrycznie ograniczone przez pełny obrót.

  • Rozdzielenie

    Rozdzielenie

    Funkcja automatycznego rozdzielenia zwiększa produktywność, skanując wiele komponentów jednocześnie i automatycznie oceniając je oddzielnie, znacznie skracając czas skanowania i interakcji operatora.

Seria ZEISS METROTOM

Do pobrania

Skontaktuj się z nami

Chcesz dowiedzieć się więcej o naszych produktach lub usługach? Przekażemy Ci szczegółowe informacje i przeprowadzimy prezentację produktu - zdalnie lub na miejscu.

ZEISS Metrology Shop

Łatwe zamawianie trzpieni, akcesoriów pomiarowych i wiele więcej

Portal ZEISS Metrology

Uzyskaj dostęp do pełnej gamy usług dla systemów i oprogramowania

ZEISS Academy Metrology

Spersonalizowane szkolenia metrologiczne dostępne w różnych formatach

Szukasz więcej informacji?

Napisz do nas. Nasi eksperci skontaktują się z Tobą.

Wczytywanie formularza...

/ 4
Następny krok:
  • Szczegóły zapytania
  • Dane kontaktowe
  • Dane firmy

Jeśli chcesz uzyskać więcej informacji na temat przetwarzania danych w ZEISS, zapoznaj się z zasadami ochrony danych osobowych.

Powiązane produkty