Pomiary multisensorowe na maszynach ZEISS O-DETECT i ZEISS O-INSPECT

webinarium

czwartek, 7 marca 2024 roku

Odkryj nową generację metrologii optycznej: ZEISS O-DETECT i ZEISS O-INSPECT.

Współczesna metrologia stawia nam coraz to większe wyzwania, w których konieczne staje się wykorzystanie różnych metod pomiarowych. W efekcie coraz większym zainteresowaniem cieszą się systemy multisensorowe.

W pełni zautomatyzowane systemy optyczne i multisensorowe ZEISS są doskonałym rozwiązaniem o bardzo szerokim zastosowaniu.

Najwyższej jakości optyka doskonale sprawdza przy pomiarze małych i delikatnych komponentów jak również przy bardzo szybkich pomiarach paletowych wielu części. Z wykorzystaniem różnych źródeł światła możemy wygenerować obraz umożliwiający detekcję najbardziej skomplikowanych kształtów.

Połączenie układu optycznego z głowicą stykową w jeden system pomiarowy skutkuje wszechstronnością, dzięki czemu pomiar najbardziej wymagających detali jest szybki i skuteczny oraz nawet 6-krotnym przyspieszeniem procesu kontroli jakości.

Oprogramowanie ZEISS CALYPSO łączy elastyczność i szeroką gamę funkcji z uniwersalną, intuicyjną koncepcją obsługi. Dzięki ZEISS CALYPSO systemy multisensorowe ZEISS O-DETECT i ZEISS O-INSPECT pozostają kompatybilne z innymi naszymi współrzędnościowymi maszynami pomiarowymi.

Obejrzyj nagranie webinarium: