Przejdź do treści głównej
![ZEISS ABIS III]({"xsmall":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_stage_1080x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.file/abis-3_stage_1080x1080.jpg","small":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_stage_1080x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.file/abis-3_stage_1080x1080.jpg","medium":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_stage_1080x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.768.file/abis-3_stage_1080x1080.jpg","large":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_stage_1080x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.1024.file/abis-3_stage_1080x1080.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_stage_1080x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original./abis-3_stage_1080x1080.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_stage_1080x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original./abis-3_stage_1080x1080.jpg","max":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_stage_1080x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original./abis-3_stage_1080x1080.jpg"} "ZEISS ABIS III")
ZEISS ABIS III łączy szybką inspekcję i niezawodne wykrywanie wszystkich istotnych wad powierzchni takich jak wgniecenia, wypukłości, zapadnięcia, pofałdowania, przewężenia, pęknięcia, a teraz także zarysowania i ślady odgniecenia. System kontroluje zarówno ruchome, jak i nieruchome części w sposób powtarzalny oraz wysoce precyzyjny bezpośrednio na linii produkcyjnej i w czasie cyklu. ABIS III jest stosowany nie tylko w trybie inline, ale także przy linii produkcyjnej.
Opatentowana technologia Multi-Color-Light powala wykrywać nawet najmniejsze wady. Cyfrowy raport z inspekcji jest generowany w kilka sekund. Dzięki temu funkcje takie jak Q-stop oraz szczegółowe informacje dotyczące jakości, takie jak wizualizacje wad dla zaplanowanych poprawek, są zawsze dostępne. Stanowią one podstawę dla koncepcji obiegu zamkniętego i są warunkiem wstępnym wdrożenia inteligentnej kontroli procesów. Zaprojektowany i opracowany w Niemczech, aby spełniać najwyższe standardy jakości, ZEISS ABIS III jest idealnym rozwiązaniem zarówno dla nowoczesnych tłoczni, jak i zorientowanych przyszłościowo nadwoziowni.
![Optyczny sensor ZEISS ABIS III do inspekcji powierzchni wykrywa różne typy wad]({"xsmall":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/surface-inspection_manually.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.file/surface-inspection_manually.jpg","small":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/surface-inspection_manually.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.file/surface-inspection_manually.jpg","medium":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/surface-inspection_manually.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.file/surface-inspection_manually.jpg","large":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/surface-inspection_manually.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.576.file/surface-inspection_manually.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/surface-inspection_manually.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.720.file/surface-inspection_manually.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/surface-inspection_manually.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.810.file/surface-inspection_manually.jpg","max":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/surface-inspection_manually.jpg/_jcr_content/renditions/original./surface-inspection_manually.jpg"} "Optyczny sensor ZEISS ABIS III do inspekcji powierzchni wykrywa różne typy wad")
Konwencjonalna inspekcja powierzchni, np. z użyciem metody szlifierskiej, zajmuje dużo czasu i zależy od danego użytkownika. Ta subiektywna inspekcja może powodować nieporozumienia pomiędzy klientem a dostawcą, a w konsekwencji skargi, roszczenia lub kosztowne zadania sortowania lub przeróbki. Dzięki zastosowaniu sensora ZEISS ABIS III i szybkiemu wykrywaniu wad z częstotliwością do 20 Hz, manualne i subiektywne procesy zapewnienia jakości stają się zbędne. Zasobooszczędny system w sposób ciągły i automatyczny dostarcza bazę danych wymaganą do dedykowanych przeróbek, szybkich analiz powierzchni i wydajnych optymalizacji procesów.
![Optyczny sensor ZEISS ABIS III do inspekcji powierzchni wykrywa różne typy wad]({"xsmall":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/zeiss_abis3_mcl-modul_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.file/zeiss_abis3_mcl-modul_1920x1080.jpg","small":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/zeiss_abis3_mcl-modul_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.file/zeiss_abis3_mcl-modul_1920x1080.jpg","medium":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/zeiss_abis3_mcl-modul_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.file/zeiss_abis3_mcl-modul_1920x1080.jpg","large":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/zeiss_abis3_mcl-modul_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.576.file/zeiss_abis3_mcl-modul_1920x1080.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/zeiss_abis3_mcl-modul_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.720.file/zeiss_abis3_mcl-modul_1920x1080.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/zeiss_abis3_mcl-modul_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.810.file/zeiss_abis3_mcl-modul_1920x1080.jpg","max":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/zeiss_abis3_mcl-modul_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original./zeiss_abis3_mcl-modul_1920x1080.jpg"} "Optyczny sensor ZEISS ABIS III do inspekcji powierzchni wykrywa różne typy wad")
Bezkompromisowy system do inspekcji powierzchni ZEISS ABIS III łączy szybką inspekcję i niezawodne wykrywanie wad zgodnie z zasadą 100%: stuprocentowa inspekcja wszystkich wyprodukowanych części, całej powierzchni oraz wszystkich istotnych rodzajów wad. Jednym z najbardziej wyróżniających się rozwiązań technicznych w tym kontekście jest nowo opracowany moduł MCL. Opatentowana technologia Multi-Color-Light umożliwia wykrywanie nawet najmniejszych wad.
![Optyczny sensor ZEISS ABIS III do inspekcji powierzchni wykrywa różne typy wad]({"xsmall":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/zeiss_abis_v20.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.file/zeiss_abis_v20.jpg","small":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/zeiss_abis_v20.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.file/zeiss_abis_v20.jpg","medium":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/zeiss_abis_v20.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.file/zeiss_abis_v20.jpg","large":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/zeiss_abis_v20.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.576.file/zeiss_abis_v20.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/zeiss_abis_v20.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.720.file/zeiss_abis_v20.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/zeiss_abis_v20.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.810.file/zeiss_abis_v20.jpg","max":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/zeiss_abis_v20.jpg/_jcr_content/renditions/original./zeiss_abis_v20.jpg"} "Optyczny sensor ZEISS ABIS III do inspekcji powierzchni wykrywa różne typy wad")
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_planner_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.50.0,0,1857,929.file/abis-3_planner_1920x1080.jpg","small":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_planner_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.180.0,0,1857,929.file/abis-3_planner_1920x1080.jpg","medium":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_planner_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.384.0,0,1857,929.file/abis-3_planner_1920x1080.jpg","large":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_planner_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.512.0,0,1857,929.file/abis-3_planner_1920x1080.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_planner_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.640.0,0,1857,929.file/abis-3_planner_1920x1080.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_planner_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.720.0,0,1857,929.file/abis-3_planner_1920x1080.jpg","max":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_planner_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1857.929.0,0,1857,929.file/abis-3_planner_1920x1080.jpg"})
![Tworzenie offline]({"xsmall":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_planner_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.783,0,1862,1079.file/abis-3_planner_1920x1080.jpg","small":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_planner_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.783,0,1862,1079.file/abis-3_planner_1920x1080.jpg","medium":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_planner_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.768.783,0,1862,1079.file/abis-3_planner_1920x1080.jpg","large":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_planner_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.1024.783,0,1862,1079.file/abis-3_planner_1920x1080.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_planner_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1079.1079.783,0,1862,1079.file/abis-3_planner_1920x1080.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_planner_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1079.1079.783,0,1862,1079.file/abis-3_planner_1920x1080.jpg","max":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/systems/optical-3d/automated-solutions/abis/abis-3_planner_1920x1080.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1079.1079.783,0,1862,1079.file/abis-3_planner_1920x1080.jpg"} "Tworzenie offline")
![ZEISS PiWeb]({"xsmall":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-piweb/zeiss_piweb-header_1920x640.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.917,0,1558,641.file/zeiss_piweb-header_1920x640.jpg","small":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-piweb/zeiss_piweb-header_1920x640.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.917,0,1558,641.file/zeiss_piweb-header_1920x640.jpg","medium":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-piweb/zeiss_piweb-header_1920x640.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.641.641.917,0,1558,641.file/zeiss_piweb-header_1920x640.jpg","large":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-piweb/zeiss_piweb-header_1920x640.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.641.641.917,0,1558,641.file/zeiss_piweb-header_1920x640.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-piweb/zeiss_piweb-header_1920x640.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.641.641.917,0,1558,641.file/zeiss_piweb-header_1920x640.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-piweb/zeiss_piweb-header_1920x640.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.641.641.917,0,1558,641.file/zeiss_piweb-header_1920x640.jpg","max":"https://www.zeiss.pl/content/dam/iqs/r/software/zeiss-piweb/zeiss_piweb-header_1920x640.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.641.641.917,0,1558,641.file/zeiss_piweb-header_1920x640.jpg"} "ZEISS PiWeb")