ZEN core

Analiza oparta na sztucznej inteligencji w mikroskopii przemysłowej

Od akwizycji obrazu do analizy mikroskopowej

Dzięki naszemu oprogramowaniu do mikroskopii ZEISS ZEN core można pozyskiwać obrazy, analizować próbki i integrować wszystkie dane w ujednoliconym ekosystemie mikroskopii połączonej. Algorytmy oparte na sztucznej inteligencji mogą być stosowane z łatwością, bez konieczności programowania, i w całym procesie. Rozwiązanie oferuje pełną kompatybilność z dostępnym portfolio mikroskopów, obsługując zarówno mikroskopy świetlne, jak i elektronowe marki ZEISS tworząc połączone środowisko badawcze. Rejestruj obrazy i koreluj wyniki z różnych mikroskopów, aby odblokować nowe możliwości w mikroskopii przemysłowej, zwiększając wydajność i produktywność dzięki zintegrowanym narzędziom AI. W zakresie przetwarzania i analizy obrazu ZEN Core oferuje inteligentne zestawy narzędzi, które mogą być używane w połączeniu z dowolnym mikroskopem innej firmy. Oprogramowanie oparte na sztucznej inteligencji, takie jak ZEISS ZEN core, jest kluczem do zautomatyzowanych, szybkich, niezawodnych, skalowalnych i przede wszystkim powtarzalnych wyników.

Odkryj naszą ofertę mikroskopii połączonej

Aspekty przemysłowego przetwarzania obrazu

Podczas przemysłowego przetwarzania obrazu obrazy 2D i 3D są najpierw dzielone na różne obszary (segmentacja obrazu), które są następnie analizowane w celu uzyskania istotnych informacji. Przemysłowe przetwarzanie obrazu jest wykorzystywane do wykrywania wad, analizy struktury i materiału, a także dostarcza innych danych, które są niezbędne do kontroli i zapewnienia jakości. Jeśli przetwarzanie obrazu jest wykonywane manualnie w zastosowaniach przemysłowych, segmentacja i analiza obrazów wymaga dużego doświadczenia i czasu. Rozwiązanie: Sztuczna inteligencja. Zautomatyzowana analiza obrazu pozwala uzyskać skalowalne, wiarygodne i powtarzalne wyniki. ZEISS ZEN core oferuje wszystkie te zalety - i wiele więcej.

Uczenie głębokie w zautomatyzowanej analizie

Uczenie głębokie służy do trenowania sztucznej inteligencji, która automatycznie, szybko i z niezawodnymi wynikami przeprowadza segmentację i analizę obrazów 2D i 3D.

Dowiedz się więcej

Inteligentna analiza materiału

Do zbadania właściwości materiału i struktury obiektu konieczne są złożone analizy. ZEN core pozwala na łatwe przeprowadzanie złożonych analiz krok po kroku bazując na określonym przepływie pracy.

Dowiedz się więcej

Segmentacja obrazu IC (Integrated Controller) w przekroju poprzecznym

Analiza obrazu

Segmentacja obrazu IC (Integrated Controller) w przekroju poprzecznym

W środowisku przemysłowym analizę obrazu przeprowadza się zwykle w formie segmentacji obrazów mikroskopowych. W procesie tym obraz jest dzielony na kilka osobnych obszarów. Obszary te i granice między różnymi obszarami są analizowane, np. w celu identyfikacji wad i zapewnienia jakości produktu. W zależności od obiektu należy jednak wziąć pod uwagę przypadki szczególne. Na przykład: powiązane obszary mają znaczenie tylko wtedy, gdy osiągną określony rozmiar i kształt, lub ważne jest, jak daleko od siebie znajdują się obszary. To sprawia, że manualna analiza jest bardzo złożona i czasochłonna. W takim przypadku wykorzystywane jest oprogramowanie do przetwarzania obrazu, które zastępuje manualną analizę zautomatyzowanym procesem. Zmniejsza to wpływ użytkownika i minimalizuje czas wymagany do uzyskania informacji. Analiza obrazu może działać w połączeniu z analizą wartości szarości (przetwarzanie progowe) lub za pomocą modeli opartych na sztucznej inteligencji.

Sztuczna inteligencja

Sztuczna inteligencja obejmuje automatyzację oraz uczenie maszynowe. Komputer naśladuje ludzkie myślenie i uczenie się. W przemyśle modele AI są trenowane w zakresie rozpoznawania struktur, wad i cech oraz samodzielnego rozwiązywania złożonych problemów w formie graficznej.

ZEISS wykorzystuje AI do segmentacji obrazu i całościowej analizy obrazu. Dzięki prostemu wytrenowaniu modelu za pomocą ZEISS ZEN core, segmentacja i klasyfikacja mogą być wykonywane automatycznie dla jednego lub więcej obrazów. To sprawia, że rutynowa praca jest bardziej wydajna, niezależna od użytkownika oraz oszczędza czas i koszty.

Zawartość pakietu:

Grain Size Analysis - analiza wielkości ziarna: określanie wielkości ziaren przy użyciu różnych metod zgodnie z międzynarodowymi standardami
Metoda planimetryczna: automatyczna rekonstrukcja granic ziaren (pomiar pojedynczego ziarna i określenie rozmieszczenia wielkości ziaren)
Metoda siecznych: półautomatyczny pomiar z wykorzystaniem wzorców cięciw
Metoda porównawcza: manualna ocena obrazu za pomocą diagramów porównawczych (wzorców)
Pomiar według norm: DIN EN ISO 643:2020 ASTM E 112-13 Plate I - IV; ASTM E 1382-97 GB/T 6394 2017

Cast Iron Analysis - analiza żeliwa: analiza postaci, wielkości i rozmieszczenia cząstek grafitu w żeliwie
Kształt i wielkość jako wartość procentowa na danym obszarze (opcjonalnie: rozmieszczenie grafitu z szeregiem referencyjnym)
Obsługiwana norma: DIN EN ISO 945 # 2019
Dodatkowa manualna reklasyfikacja faz

Multiphase Analysis - analiza wielofazowa: zautomatyzowany pomiar wielkości cząstek i obszaru w przypadku próbek wielofazowych, a także ocena porowatości
Porównanie z wzorcami: porównanie obrazów mikrostruktur ze standaryzowanymi lub zdefiniowanymi przez użytkownika wzorcami
Porównanie z jednym, dwoma, czterema lub ośmioma obrazami wzorców w jednym widoku z opcją nakładania obrazu i wykresu w celu bezpośredniego porównania:
Ziarna: DIN EN ISO 643:2012 ASTM E 112-13 Plate I - IV; GB/T6394 2002
Wtrącenia niemetaliczne (NMI): ISO 4967:2013; GB-10561 EN 10247:2007, ASTM E 45:2013; DIN 50602:1987
Grafit: EN ISO 945-1: 2008 + Cor. 1: 2010
Tworzenie standardów odniesienia (wzorców): funkcjonalność umożliwiająca generowanie standardów odniesienia dostosowanych do potrzeb klienta

Pomiar grubości powłoki: zautomatyzowany lub interaktywny pomiar grubości różnych warstw
Obsługiwane normy: ASTM B 487 - 2007, DIN EN ISO 1463 - 2004

Obsługa AI - do oceny danych mogą być wykorzystywane pre-trenowane modele. Modeli nie można tworzyć ani modyfikować – zadania te wymagają AI Toolkit; subskrypcja APEER ML jest wymagana dla modeli opartych na uczeniu głębokim.
Zestaw narzędzi do analizy obrazów 2D poprzez tworzenie automatycznych programów pomiarowych, w tym zaawansowanych funkcji przetwarzania
Kompletny pakiet aplikacji AI, w tym zintegrowane interfejsy trenowania:

ZEN Intellesis segmentation: zautomatyzowana segmentacja obrazu za pomocą algorytmów uczenia maszynowego
ZEN Intellesis object classification: automatyczna klasyfikacja obiektów segmentowanych i analizowanych obrazów przy użyciu algorytmów uczenia maszynowego
ZEN Intellesis AI noise reduction: wspomagana przez AI redukcja szumów za pomocą algorytmów Noise-2-Void
Środowisko makr: programowanie niestandardowych makr w języku Python
API:Sterowanie ZEN core poprzez interfejs API (usługa zespołu programistów ZEISS)
Identyfikowalność i rozliczalność przepływów pracy (warunek wstępny zgodności z 21 CFR część 11)
Ścieżka audytu
Baza danych SQL

Centralne rozwiązanie bazodanowe
Inteligentne zarządzanie danymi
Nieograniczone zintegrowane zarządzanie użytkownikami i dostępem bez dodatkowych kosztów

Pytania dotyczące ZEN core

Masz pytania lub potrzebujesz indywidualnej porady? Skontaktuj się z naszymi ekspertami od ZEISS ZEN core!

Przetestuj ZEN core

Zarejestruj się i przetestuj ZEN core bezpłatnie przez 60 dni - bez żadnych zobowiązań umownych. Zapoznaj się z naszymi narzędziami do analizy obrazu i uczenia maszynowego.

Wczytywanie formularza...

Jeśli chcesz uzyskać więcej informacji na temat przetwarzania danych w ZEISS, zapoznaj się z zasadami ochrony danych osobowych.

ZEN core

Od akwizycji obrazu do analizy mikroskopowej

Aspekty przemysłowego przetwarzania obrazu

Uczenie głębokie w zautomatyzowanej analizie

Inteligentna analiza materiału

Inteligentna baza danych obrazów dzięki opcji GxP