Wyjątkowa jakość obrazu tomografii komputerowej

ZEISS scatterControl

Rozwiązanie sprzętowe zapewniające optymalną jakość obrazu

Moduł ZEISS scatterControl znacznie poprawia jakość obrazu i redukuje do minimum artefakty rozproszone w tomografii komputerowej. Ulepszenia te ułatwiają późniejsze przetwarzanie danych i etapy oceny odpowiednich części, co skutkuje jeszcze dokładniejszym określeniem powierzchni i analizą defektów. Produkt jest idealny do części o dużej objętości i gęstości, takich jak części metalowe wytwarzane metodą addytywną i części z odlewów aluminiowych, nawet z wkładkami stalowymi, a także innych zespołów zawierających gęstsze materiały.

Moduł jest dostępny dla ZEISS METROTOM 1500 225kV G3 jako rozwiązanie modernizacyjne lub w ramach zakupu nowego systemu. Zmodernizuj swój system za pomocą ZEISS scatterControl już teraz i ciesz się doskonałą jakością obrazu, która znacznie ułatwia ocenę danych.

Korzyści
Jakość obrazu
Oprogramowanie ZADD
Najczęściej zadawane pytania
Skontaktuj się z nami

Korzyści z użytkowania ZEISS scatterControl

Lepsza jakość obrazu, lepsze wykrywanie wad

Moduł ZEISS scatterControl zdecydowanie poprawia jakość obrazu tomografii komputerowej poprzez zredukowanie artefaktów wywołanych promieniowaniem rozproszonym. Zwiększa kontrast między różnymi komponentami i ułatwia wykrywanie wad: teraz można ocenić obszary części, które wcześniej nie były dostępne.

Lepsze definiowanie powierzchni

ZEISS scatterControl poprawia nie tylko wykrywanie wad, lecz także ogólną jakość wyznaczania powierzchni. Jest to istotna zaleta w zastosowaniach metrologicznych do trudnych części, gdzie artefakty – jeśli nie są korygowane – zakłócają proces wyznaczania powierzchni.

Szybkie skanowanie w trybie VAST

ZEISS scatterControl działa zarówno w trybie skanowania „Stop and Go”, jak i VAST. Rozwiązanie ZEISS scatterControl zapewnia doskonałą jakość obrazu tomografii komputerowej z wiązką stożkową, dzięki czemu jest ona porównywalna z jakością tomografii komputerowej z wiązką wachlarzową – tylko że przy nawet 1000-krotnie krótszym czasie skanowania.

Łatwość użycia

ZEISS scatterControl to rozwiązanie wymagające tylko jednego kliknięcia. Moduł współpracuje bez problemu z innymi przydatnymi funkcjami METROTOM OS, takimi jak VHD (Virtual Horizontal Detector Extension), AMMAR (Advanced Mixed Material Artifact Reduction) czy VolumeMerge, i jest w pełni zintegrowany w oprogramowaniu.

ZEISS scatterControl dla lepszej analizy wad

Moduł ZEISS scatterControl zdecydowanie poprawia jakość obrazu tomografii komputerowej dla szeregu części i branż. Wszystko to dzięki zastosowaniu szeregu rozwiązań, począwszy od skutecznego usuwania artefaktów, a skończywszy na pozycjonowaniu modułu w stosunku do skanowanego przedmiotu. Dlatego właśnie ZEISS scatterControl jest idealnym wyborem. Poniżej dowiesz się, jak można wykorzystać moduł do doskonałego wykrywania i analizy wad.

Mniej artefaktów dla lepszej jakości obrazu TK

Z ZEISS scatterControl zauważysz wyraźną różnicę. Użyj suwaka, aby porównać jakość obrazu rentgenowskiego osiągalną z modułem scatterControl i bez niego. Poprawiony obraz ma wyższy kontrast i mniej artefaktów, dzięki czemu szczegóły są znacznie wyraźniejsze.

Najwyższa jakość dzięki umiejscowieniu modułu

W porównaniu z podobnymi produktami ZEISS scatterControl pozwala osiągnąć lepszą jakość dzięki zasadzie działania modułu: jest on umieszczany między tubusem a detektorem. Mniejsze obiekty, takie jak gęste części wytwarzane addytywnie, można umieścić z przodu modułu, a większe obiekty z tyłu. Moduł działa na oba sposoby. Ponadto wbudowany czujnik kolizji i zaawansowane oprogramowanie do przewidywania kolizji skutecznie zapobiegają zderzeniom.

Idealne rozwiązanie do szeregu części i branż

  • Odlewnictwo: części z litego aluminium lub magnezu, nawet ze stalowymi wkładkami
  • Motoryzacja: odlewy z wkładkami stalowymi, energoelektronika
  • Produkcja addytywna: gęste, metalowe części drukowane

Lepsze pomiary 3D

Lepsze wyniki oceny dużej ilości danych i łatwiejsza ocena. Powierzchnie 3D można określać i renderować bez rozpraszających uwagę artefaktów. Wiele z nich jest zazwyczaj efektem promieniowania rozproszonego i powoduje powstawanie w 3D pseudopowierzchni, które utrudniają dokładne pomiary.

Niezawodne oprogramowanie do oceny pomiarów rentgenowskich

Oprogramowanie ZEISS Automated Defect Detection (ZADD) niezawodnie wykrywa nawet najmniejsze wady – w przypadku komponentów formowanych wtryskowo, części medycznych, wytwarzanych addytywnie i nie tylko.

Dowiedz się więcej

Często zadawane pytania dotyczące ZEISS scatterControl

W przypadku jakich obrabianych przedmiotów ZEISS scatterControl przynosi największe korzyści?

Części, w przypadku których rozwiązanie ZEISS scatterControl jest najbardziej efektywne, to między innymi części z litego aluminium lub magnezu, odlewy ze stalowymi wkładami, energoelektronika, a także gęste i metalowe części drukowane.

Jak skonfigurować skan z ZEISS scatterControl?

ZEISS scatterControl to rozwiązanie wymagające tylko jednego kliknięcia. Ochrona przed kolizją za pomocą oprogramowania i sprzętu jest już zintegrowana, dzięki czemu można rozpocząć proces skanowania bez żadnych dodatkowych czynności.

Mam już ZEISS METROTOM 1500 G3. Czy mogę zmodernizować system za pomocą ZEISS scatterControl?

Tak, ZEISS scatterControl to idealne rozwiązanie do modernizacji ZEISS METROTOM 1500 G3. Do poprawy obrazów tomografii komputerowej za pomocą modułu scatterControl mogą być niezbędne aktualizacje, na przykład systemu METROTOM OS.