ZEISS OMNIA GC 220-180

Zautomatyzowana inspekcja nowej generacji dla dużych części

ZEISS OMNIA GC 220-180 jest rozwiązaniem na potrzebę zapewnienia jakości dużych odlewów, oferując przyszłościowe narzędzie do wykrywania wad w częściach aluminiowych. Dzięki objętości pomiarowej 2200×1800×900 mm i zautomatyzowanemu przepływowi pracy, system umożliwia obrazowanie rentgenowskie 2D w krótkich cyklach i optymalizuje cały proces produkcyjny w różnych branżach, zarówno w trybie in-line, jak i at-line.

Inspekcja dużych odlewów przy niewielkich rozmiarach systemu
W pełni zautomatyzowane wykrywanie wad i odrzucanie
Skanowanie nawet najtrudniej dostępnych struktur

Idealny system do wykrywania wad w dużych odlewach

Inspekcja dużych części takich jak tylne lub przednie odlewy

Maszyna ZEISS OMNIA GC została stworzona z myślą o przyszłości produkcji motoryzacyjnej, gdzie większe odlewy wymagają bardziej zaawansowanych rozwiązań inspekcyjnych. Dzięki wysokiej jakości technologii rentgenowskiej i precyzyjnie zaprojektowanemu systemowi może obsługiwać nawet największe komponenty – zapewniając ostre, szczegółowe obrazy bez kompromisu w zakresie szybkości i dokładności. Przemyślana konstrukcja zapewnia pełne pokrycie w jednym skanie, skracając czas inspekcji przy zachowaniu wysokiej precyzji.

Rozwiązania z pojedynczymi lub podwójnymi drzwiami dla różnych wymagań

ZEISS OMNIA GC można skonfigurować jako system jednodrzwiowy do kontroli at-line lub in-line. Dzięki niewielkim rozmiarom idealnie nadaje się do sekwencyjnych zadań o niskiej lub średniej przepustowości, jednocześnie pozwalając płynną integrację z istniejącymi liniami produkcyjnymi. Modernizacja do systemu dwudrzwiowego przekształca go w wysokowydajne rozwiązanie in-line, umożliwiające szybką i zautomatyzowaną obsługę części z równoległym załadunkiem, rozładunkiem i inspekcją wielu palet. Ta elastyczność pozwala producentom na skalowanie inspekcji w oparciu o wymagania produkcyjne.

Układ kartezjański dla nieskończonych pozycji inspekcji

Nasz system kontroli rentgenowskiej wykorzystuje precyzyjne manipulatory bazujące na kartezjańskim układzie współrzędnych do uzyskiwania obrazów wszystkich krytycznych obszarów części. W przeciwieństwie do rozwiązań robotycznych, które są ograniczone przez przeguby obrotowe, osie kartezjańskie zapewniają płynny, liniowy ruch i precyzyjne nachylanie, powiększanie i pozycjonowanie. Umożliwia to dostęp nawet do najtrudniejszych obszarów złożonych odlewów. Dzięki wiązce promieniowania oferującej nachylenie ±60° i prędkości ruchu do 15 metrów na minutę, ZEISS OMNIA GC zapewnia szybkie, elastyczne i bezkolizyjne inspekcje w każdej możliwej pozycji kątowej.

Automatyczne rozpoznawanie wad (ADR)

ZEISS OMNIA GC posiada zaawansowaną funkcję Automatic Defect Recognition (ADR) do w pełni zautomatyzowanej inspekcji i oceny wad zgodnie z normami ASTM. System automatycznie wykrywa i sortuje wadliwe części:

Identyfikacja porowatości, wtrąceń, pęknięć, skurczów i otworów wydmuchowych
Konfigurowalne biblioteki wad i wbudowane standardy akceptowalności
Funkcje autodiagnostyczne i narzędzia do kalibracji
Monitorowanie produkcji w czasie rzeczywistym i statystyki wad
Zaawansowane funkcje ulepszenia obrazu

Szybki cykl inspekcji

System zapewnia szybkie cykle inspekcji z precyzyjnymi ruchami w układzie kartezjańskim i równoległym załadunkiem/rozładunkiem dla maksymalnej wydajności. W przeciwieństwie do rozwiązań zrobotyzowanych, eliminuje potrzebę resetowania pozycji bezpieczeństwa, zmniejszając w ten sposób opóźnienia. Inteligentna koordynacja systemu dodatkowo optymalizuje czasy cykli zarówno w operacjach in-line, jak i at-line, zwiększając przepustowość i produktywność.
Maksymalny stosunek powierzchni inspekcyjnej do zajmowanego miejsca

Konstrukcja monoblokowa i zasada ruchu kartezjańskiego zapewniają kompleksową inspekcję dużych odlewów na minimalnej przestrzeni. Ekranowana kabina rentgenowska optymalizuje wykorzystanie hali produkcyjnej, podczas gdy wewnętrzny przesuw i przechylanie palety maksymalizuje użyteczny obszar inspekcyjny na najmniejszej możliwej powierzchni. Taka konstrukcja zapewnia efektywne wykorzystanie przestrzeni bez kompromisu dla dostępności i wydajności.
Rozwiązanie gotowe do pełnej automatyzacji

System ZEISS OMNIA GC został stworzony z myślą o szybkiej i niezawodnej automatyzacji. Intuicyjne oprogramowanie OMNIA CNC z funkcją automatycznego rozpoznawania wad (ADR) umożliwia automatyczną ocenę wad zgodnie ze standardami branżowymi. Symulacja zapobiegająca zderzeniom, a także oparte na oprogramowaniu sterowanie cyklem CNC i automatyzacją umożliwiają łatwe programowanie przy minimalnym szkoleniu, zdalnie lub za pośrednictwem panelu sterowania.
Możliwość modernizacji i dostosowania

Modułowa konstrukcja systemu umożliwia płynną integrację z istniejącymi liniami produkcyjnymi. Jego konfigurowalna budowa, np. pojedyncze lub podwójne drzwi, zapewnia skalowalność w przyszłości, umożliwiając modernizację w celu zaspokojenia zmieniających się potrzeb w zakresie inspekcji. Niezależnie od tego, czy chodzi o dostosowanie do nowych przepływów pracy, czy rozszerzenie możliwości, elastyczność systemu sprawia, że jest on długoterminowym rozwiązaniem dla dynamicznych środowisk produkcyjnych.
Pełna elastyczność inspekcji różnych części

Konstrukcja wielostanowiskowa umożliwia inspekcję różnych części przy użyciu tej samej palety, a wewnętrzny mechanizm przesuwania palet zapewnia maksymalną elastyczność w obsłudze części. Łatwa adaptacja do różnych komponentów bez konieczności zmiany konfiguracji zwiększa wydajność i skraca czas przestojów.
Sprawdzone know-how i globalne wsparcie

Zbudowany w oparciu o najlepszy w swojej klasie system ZEISS BOSELLO OMNIA, ZEISS OMNIA GC korzysta z dziesięcioleci doświadczenia w kontroli odlewów. Dzięki setkom systemów zainstalowanych na całym świecie i sieci serwisowej obejmującej ponad 40 krajów klienci otrzymują fachowe wsparcie wszędzie tam, gdzie jest potrzebne. Główne komponenty i silniki systemu są zgodne z innymi modelami OMNIA, zapewniając łatwą konserwację i długoterminową możliwość serwisowania.

Zastosowania