Rozwiązanie optyczne dające odpowiednią siłę nacisku ZEISS O-INSPECT

Perfekcyjna symbioza obrazu i dotyku

ZEISS O-INSPECT

Multisensorowe maszyny pomiarowe ZEISS O-INSPECT umożliwiają optymalny pomiar każdej cechy zgodnie znormą ISO-10360 - zaróno optycznie jak i stykowo.

Zalety:

Szerokie pole widzenia z wysoką rozdzielczością obrazu
Szybkie i precyzyjne pomiary stykowe 3D
Bezstykowe pomiary powierzchni małych i delikatnych części
Niezawodne pomiary w krótszym czasie

Atuty

Szerokie pole widzenia i wysoka rozdzielczość obrazu

Obiektyw ZEISS Discovery.V12 zapewnia rózne powiększenia, szerokie pole widzenia bez zniekształceń i zwiększoną rozdzielczość przydatną do pomiaru małych części.

Pomiary stykowe 3D - szybkość i precyzyja

Stykowa głowica skanująca VAST XXT pozwala na pomiary z minimalną siłą nacisku z wykorzystaniem małych średnic trzpieni i dostarcza pużą ilość punktów przy pojedynczym skanowaniu co jest cechą unikalną w tej kategorii produktów.

Pomiary optyczne delikatnych części

Głowica ZEISS DotScan umożliwia bezkontaktowe rejestrowanie topografii części. Dostępna jest jako opcja i znajduje zastosowanie w przypadku wrażliwych, odblaskowych lub mało kontrastowych powierzchni, które utrudniają korzystanie z innych glowic.

Pierścienie oświetleniowe

Pierścień oświetleniowy składa się z czterech pierścieni szesnastu niebieskich oraz szesnastu czerwonych diod LED w ośmiu segmentach, których światłem można sterować. Wraz z synchronizacją optyczną, kolorowe diody LED pozwalają użytkownikowi na odfiltrowanie rozpraszającego światła otoczenia oraz na podświetlenie np. kolorowych materiałów z doskonałym kontrastem.

Dokładność z kazdym kierunku

"Opcjonalny stół obrotowy zapewnia maszynie pomiarowej ZEISS O-INSPECT programowalną oś obrotową, zapewniając tym
samym pomiar części ze wszystkich stron. Możliwe jest również zintegrowanie stołu z paletą, w celu uzyskania innych pozycji i skrócenia czasu konfiguracji."

Wyjątkowa niezawodność i redukcja czasu pomiaru

Zintegrowany system palet z interfejsem do automatycznego pomiaru temperatury części mierzonej pozwala na oszczędności czasu i zapewnienie niezawodności.

Profesjonalne, interaktywne raporty

Raportowanie w ZEISS PiWeb plus pozwala uzyskać dokumentację i wizualizację danych pomiarowych po jednym kliknięciu, dostarczając przydatne informacje o częściach i procesach.

Oprogramowanie dostosowane do każdego pomiaru

Oprogramowanie pomiarowe ZEISS CALYPSO sprawia, że maszyna ZEISS O-INSPECT stanowi klasę samą w sobie w zakresie wizualizacji. Użytkownik widzi jednocześnie rzeczywisty obraz, obraz nominalny oraz wizualizację defektów, co sprawia, że szczególnie łatwe jest właściwe zidentyfikowanie i zinterpretowanie wyników pomiaru.

Wyjątkowa optyka

Szerokie pole widzenia

i wysoka rozdzielczość obrazu

Obiektyw ZEISS Discovery.V12 powstał w Dziale Mikroskopii firmy ZEISS. W porównaniu ze standardowymi obiektywami zapewnia on 4-krotnie szersze pole widzenia i znakomitą rozdzielczość obrazu także na jego obrzeżach.
To oznacza krótszy czas pomiaru i wyjątkową precyzję.

Optymalny kontrast

System oświetlenia ZEISS O-INSPECT

W celu uzyskania dokładnych wyników pomiarów, niezbędny jest obraz o wysokim kontraście. W tym celu ZEISS O-INSPECT oferuje bardzo wszechstronny system oświetlenia. Można oświetlać skrajnie różne kształty, tekstury i kolory powierzchni, uzyskać różne kąty padania, wyraźnie podkreślając istotne krawędzie.

Techologia multisensorowa

Pomiary stykowe

Pomiary stykowe to właściwy wybór, gdy wymagana jest bardzo wysoka dokładność pomiaru. Głowice stykowe, takie jak ZEISS VAST XXT, skanują powierzchnię elementu punkt po punkcie. Dodatkowo posiada ona również funkcję skanowania, dostarczając w ten sposób informacji o kształcie cechy.

Pomiary optyczne

Obiektyw zmiennoogniskowy ZEISS Discovery.V12 zapewnia szerokie, wolne od zniekształceń pole widzenia, co pozwala uzyskać wyniki pomiarów z doskonałą dokładnością i przy znacznym skróceniu czasu pomiaru.

Światło białe

Chromatyczno-konfokalna głowica światła białego ZEISS DotScan dostępna jest jako dodatkowe wyposażenie. Umożliwia bezstykowe pomiary powierzchni małych i delikatnych części.

Oprogramowanie

Jedno oprogramowanie do wielu zadań pomiarowych

ZEISS O-INSPECT nie oszczędza również na oprogramowaniu. Dzięki ZEISS CALYPSO 2020 masz dostęp do tego samego oprogramowania, które służy do obsługi innych naszych współrzędnościowych maszyn pomiarowych. ZEISS CALYPSO 2020 łączy szeroką gamę funkcji i elastyczność z uniwersalną, intuicyjną koncepcją obsługi. ZEISS CALYPSO 2020 ze zwiększoną prędkością pomiaru (6 razy szybciej) umożliwia szybkie i łatwe wykonywanie szerokiego zakresu zadań pomiarowych przy użyciu różnych czujników w ten sam sposób.

ZEISS O-INSPECT

ZEISS O-INSPECT 3/2/2

300x200x200 mm³

ZEISS O-INSPECT 5/4/3

500x400x300 mm³

ZEISS O-INSPECT 8/6/3

800x600x300 mm³

Parametry techniczne ZEISS O-INSPECT

		ZEISS O-INSPECT 3/2/2	ZEISS O-INSPECT 5/4/3	ZEISS O-INSPECT 8/6/3
Obiektyw		ZEISS Discovery.V12	ZEISS Discovery.V12	ZEISS Discovery.V12
Objętość pomiarowa		300x200x200 mm³	500x400x300 mm³	800x600x300 mm³
Pole widzenia	min	16.1x12.0 mm³	16.1x12.0 mm²	16.1x12.0 mm²
Pole widzenia	max	1.3x1.0 mm²	1.3x1.0 mm²	1.3x1.0 mm²
Błąd pomiaru długości MPE€	w 1D	1.6µm+L/200 µm	1.4µm+L/250 µm	1.5µm+L/250 µm
	w 2D	1.9µm+L/150 µm	1.6µm+L/250 µm	1.8µm+L/250 µm
	w 3D	2.4µm+L/150 µm	1.9µm+L/250 µm	2.2µm+L/250 µm
Oprogramowanie		ZEISS CALYPSO	ZEISS CALYPSO	ZEISS CALYPSO