ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT)
ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) dygitalizuje złożone części, w tym geometrie wewnętrzne, na najwyższym poziomie szczegółowości. Użytkownik otrzymuje pełny obraz 3D do analiz GD&T lub porównań danych nominalnych i rzeczywistych. Przemysłowy tomograf CT szczególnie dobrze sprawdza się w digitalizacji małych części z tworzyw sztucznych i metali lekkich.
- Niezwykle wysoka rozdzielczość
dzięki detektorowi rentgenowskiemu 3k (3008 x 2512 pikseli) - Wysoka precyzja
ze względu na matematyczne modelowanie pomieszczenia pomiarowego - Automatyczne pozycjonowanie obiektów
za pomocą 5-osiowej kinematyki i podglądu na żywo w oprogramowaniu - Wszystko w jednym oprogramowaniu
dla zapewnienia spójnego, szybkiego przepływu pracy
Ujawnia to, co w innych systemach pozostaje ukryte
ROZDZIELCZOŚĆPodczas digitalizacji części ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) osiąga znakomity poziom szczegółowości: z jednej strony dlatego, że wykorzystuje on wysokiej rozdzielczości detektor rentgenowski 3k do pozyskiwania danych pomiarowych, a z drugiej strony dlatego, że każda część jest mierzona w najlepszej możliwej pozycji pomiarowej, a zatem zawsze w najwyższej możliwej rozdzielczości. Wynik widać poniżej: po lewej stronie dane pomiarowe wygenerowane za pomocą GOM CT, a po prawej zwykłą metodą standardową.
![Measuring data generated with the ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT)](https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/gom-ct-good.ts-1587627625507.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=ffd3e39b88093219634b87bf717087fa)
![Not optimized measuring data with ct systems](https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/gom-ct-bad.ts-1587627622456.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=0c84960b05aad92ea2a3aa0168e42900)
![CT system uses mathematical intelligence. CT system uses mathematical intelligence.]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/siv-bearbeitet.ts-1591604650123.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=84eb1a44d6c2613880563b02418aa9e3","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/siv-bearbeitet.ts-1591604650123.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=b95dd259abbe4b308ca164e83f71ec6e","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/siv-bearbeitet.ts-1591604650123.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=bbb316e41a03c5c9d845e8a7a7f0e578","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/siv-bearbeitet.ts-1591604650123.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=377a78e8ef5c214e7875949f23971668"})
Gwarantuje wysoką precyzję
Do generowania precyzyjnych danych pomiarowych 3D ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) wykorzystuje inteligencję matematyczną, która łączy doskonale powiązane algorytmy w sekwencji pomiarowej z cyfrowym modelowaniem pomieszczenia pomiarowego. Ponadto system oferuje zoptymalizowaną stabilność mechaniczną wszystkich komponentów istotnych dla wykonania pomiaru. Krótko mówiąc: Na podstawie wyników pomiarów możesz ocenić jakość części w niezawodny i bardzo precyzyjny sposób oraz przeprowadzić dalszą analizę.
Łatwe centrowanie części
AUTOMATYCZNE POZYCJONOWANIE OBIEKTÓW
5-osiowa kinematyka ze zintegrowanym stołem centrującym pomaga optymalnie ustawić część w przestrzeni pomiarowej. Wystarczy umieścić ją w pomieszczeniu pomiarowym maszyny, a resztę wykona oprogramowanie.
![Part of an in-ear headphone digitized with the ZEISS METROTOM scout 6. Part of an in-ear headphone digitized with the ZEISS METROTOM scout 6.]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/digital-article/zeiss-metrotom-6-scout/earphone-scan.ts-1587459656319.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=084a3b2afd3aa90e056ac197ba1355b5","large":"https://images.zeiss.com/metrology/digital-article/zeiss-metrotom-6-scout/earphone-scan.ts-1587459656319.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=dced2a3864cbae9870b90d9e1f465b21","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/digital-article/zeiss-metrotom-6-scout/earphone-scan.ts-1587459656319.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=793a05786ef2ba0464226817cd50de20","full":"https://images.zeiss.com/metrology/digital-article/zeiss-metrotom-6-scout/earphone-scan.ts-1587459656319.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=ab55b4f5a63de257dad040ae20f913c8"})
Wszystko w jednym oprogramowaniu
Kontrola urządzenia i metrologiczna ocena danych są połączone w jednym pakiecie oprogramowania, dzięki czemu nie jest potrzebne dodatkowe oprogramowanie ani etapy pośrednie. Łańcuch procesów jest znacznie uproszczony: począwszy od rejestracji surowych danych, przez kontrolę aż do utworzenia raportu pomiarowego.
Kompleksowa ocena z GOM Volume Inspect
GOM Volume Inspect umożliwia pełną analizę danych tomograficznych w 3D w celu oceny jakości części i optymalizacji procesu produkcji. Poszczególne obrazy przekrojów pozwalają na oglądanie objętości warstwa po warstwie, dzięki czemu widoczne są nawet najmniejsze szczegóły i defekty. Wykryte wady mogą być szczegółowo analizowane i automatycznie oceniane według różnych kryteriów. Dodatkowo można wczytać do projektu dane objętościowe kilku komponentów, przeprowadzić analizę trendów i porównać analizę z danymi CAD. Wszystkie wyniki pomiarów są dokumentowane i ostatecznie łączone w dobrze skonstruowany raport. Intuicyjna obsługa i wysoka wydajność: Analiza danych tomograficznych nigdy nie była łatwiejsza!
![Complete CT data analysis in 3D with software GOM Volume Inspect Complete CT data analysis in 3D with software GOM Volume Inspect]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/snapshot01_1920.ts-1588846176470.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=67d5497d079a21d8e9668f0d10b2800b","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/snapshot01_1920.ts-1588846176470.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=8555d354001fd404969afd442d354a15","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/snapshot01_1920.ts-1588846176470.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=b21d83ef6cac6e2d540a3480142d6c3c","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/systems/ct/metrotom/snapshot01_1920.ts-1588846176470.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=2c73df3a0739b74ed6c7d14b2dfd379c"})
Dane techniczne
CechyŹródło promieniowania RTG |
225 kV |
Detektor rentgenowski |
rozdzielczość: 3008 x 2512 pikseli |
Obszar pomiarowy |
d:240 mm h: 400 mm |
Rozmiar wokseli |
2 µm - 80 µm |
Wymiary |
Wys. 2210 mm |
Masa |
4800 kg |
Obszary zastosowania |
kontrola pierwszego artykułu, korekta narzędzia, kontrola podczas bieżącej produkcji |
Właściwości objęte kontrolą |
struktury wewnętrzne, grubość ścianek, wady materiałowe, pory i wnęki skurczowe |
Zadania pomiarowe |
analiza GD&T, porównanie danych nominalnych i rzeczywistych, analiza złożenia |