ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) computed tomography
ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) computed tomography
Potęga rozdzielczości dla kontroli TK i metrologii

ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT)

ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) dygitalizuje złożone części, w tym geometrie wewnętrzne, na najwyższym poziomie szczegółowości. Użytkownik otrzymuje pełny obraz 3D do analiz GD&T lub porównań danych nominalnych i rzeczywistych. Przemysłowy tomograf CT szczególnie dobrze sprawdza się w digitalizacji małych części z tworzyw sztucznych i metali lekkich.

Jak skorzystasz:
  • Niezwykle wysoka rozdzielczość
    dzięki detektorowi rentgenowskiemu 3k (3008 x 2512 pikseli)
  • Wysoka precyzja
    ze względu na matematyczne modelowanie pomieszczenia pomiarowego
  • Automatyczne pozycjonowanie obiektów
    za pomocą 5-osiowej kinematyki i podglądu na żywo w oprogramowaniu
  • Wszystko w jednym oprogramowaniu
    dla zapewnienia spójnego, szybkiego przepływu pracy

Ujawnia to, co w innych systemach pozostaje ukryte

ROZDZIELCZOŚĆ

Podczas digitalizacji części ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) osiąga znakomity poziom szczegółowości: z jednej strony dlatego, że wykorzystuje on wysokiej rozdzielczości detektor rentgenowski 3k do pozyskiwania danych pomiarowych, a z drugiej strony dlatego, że każda część jest mierzona w najlepszej możliwej pozycji pomiarowej, a zatem zawsze w najwyższej możliwej rozdzielczości. Wynik widać poniżej: po lewej stronie dane pomiarowe wygenerowane za pomocą GOM CT, a po prawej zwykłą metodą standardową.

CT system uses mathematical intelligence.

Gwarantuje wysoką precyzję

Do generowania precyzyjnych danych pomiarowych 3D ZEISS METROTOM 6 scout (GOM CT) wykorzystuje inteligencję matematyczną, która łączy doskonale powiązane algorytmy w sekwencji pomiarowej z cyfrowym modelowaniem pomieszczenia pomiarowego. Ponadto system oferuje zoptymalizowaną stabilność mechaniczną wszystkich komponentów istotnych dla wykonania pomiaru. Krótko mówiąc: Na podstawie wyników pomiarów możesz ocenić jakość części w niezawodny i bardzo precyzyjny sposób oraz przeprowadzić dalszą analizę.

Łatwe centrowanie części

AUTOMATYCZNE POZYCJONOWANIE OBIEKTÓW

5-osiowa kinematyka ze zintegrowanym stołem centrującym pomaga optymalnie ustawić część w przestrzeni pomiarowej. Wystarczy umieścić ją w pomieszczeniu pomiarowym maszyny, a resztę wykona oprogramowanie.

Part of an in-ear headphone digitized with the ZEISS METROTOM scout 6.

Wszystko w jednym oprogramowaniu

Kontrola urządzenia i metrologiczna ocena danych są połączone w jednym pakiecie oprogramowania, dzięki czemu nie jest potrzebne dodatkowe oprogramowanie ani etapy pośrednie. Łańcuch procesów jest znacznie uproszczony: począwszy od rejestracji surowych danych, przez kontrolę aż do utworzenia raportu pomiarowego.

Kompleksowa ocena z GOM Volume Inspect

GOM Volume Inspect umożliwia pełną analizę danych tomograficznych w 3D w celu oceny jakości części i optymalizacji procesu produkcji. Poszczególne obrazy przekrojów pozwalają na oglądanie objętości warstwa po warstwie, dzięki czemu widoczne są nawet najmniejsze szczegóły i defekty. Wykryte wady mogą być szczegółowo analizowane i automatycznie oceniane według różnych kryteriów. Dodatkowo można wczytać do projektu dane objętościowe kilku komponentów, przeprowadzić analizę trendów i porównać analizę z danymi CAD. Wszystkie wyniki pomiarów są dokumentowane i ostatecznie łączone w dobrze skonstruowany raport. Intuicyjna obsługa i wysoka wydajność: Analiza danych tomograficznych nigdy nie była łatwiejsza!

Complete CT data analysis in 3D with software GOM Volume Inspect

Dane techniczne

Cechy

Źródło promieniowania RTG

225 kV

Detektor rentgenowski

rozdzielczość: 3008 x 2512 pikseli

Obszar pomiarowy

d:240 mm h: 400 mm

Rozmiar wokseli

2 µm - 80 µm

Wymiary

Wys. 2210 mm
Szer. 2200 mm
Gł. 1230 mm

Masa

4800 kg

Obszary zastosowania

kontrola pierwszego artykułu, korekta narzędzia, kontrola podczas bieżącej produkcji

Właściwości objęte kontrolą

struktury wewnętrzne, grubość ścianek, wady materiałowe, pory i wnęki skurczowe

Zadania pomiarowe

analiza GD&T, porównanie danych nominalnych i rzeczywistych, analiza złożenia