Z łatwością twórz zaawansowane statystyki
Niezależnie od tego, czy potrzebujesz podać informacje o jakości wyników pomiarów, czy o procesie produkcyjnym: ZEISS PiWeb zapewnia wszelkiego rodzaju statystyki, które pomagają śledzić jakość produkcji.
Badania GR&R
Wykonaj badania GR&R typu I, II i III ARM oraz ANOVA z danymi z pomiarów stykowych, optycznych lub ręcznych.
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/piweb/piweb_powerful-statistics.ts-1674047876732.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=044b5dad978c8b90f3e0c7be148c6444","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/piweb/piweb_powerful-statistics.ts-1674047876732.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=e50eedb9b524bdbeb547361721b58aac","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/piweb/piweb_powerful-statistics.ts-1674047876732.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=2adceda3fd3b36818196c21eca715f7a","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/piweb/piweb_powerful-statistics.ts-1674047876732.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=d8374559106cbd9971e422b2f939ed41"})
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/piweb/piweb_control-chart.ts-1673610398398.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=34825bdc319ed0013b5dc2532a7e0cb8","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/piweb/piweb_control-chart.ts-1673610398398.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=7d59de5e5e7606343184e2dba02afa61","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/piweb/piweb_control-chart.ts-1673610398398.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=8be29531273672ec0719e6c0dc5fed61","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/piweb/piweb_control-chart.ts-1673610398398.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=2d579a066de6339025af2526dfc24178"})
Wykresy kontrolne
Oceniaj dane procesowe za pomocą wbudowanych wykresów dla x̅, S (odchylenie standardowe) i R (zakres).
Badania zdolności
Wykonuj szeroki zakres badań zdolności, w tym Cm, Cmk, Cp, Cpk, Po, Pok itp.
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/piweb/piweb_capability-studies.ts-1673610398094.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=856a6caf59cd0acb4c43d48e3632cd09","large":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/piweb/piweb_capability-studies.ts-1673610398094.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=e998d2b2c9b19aa45b6c3387768a7206","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/piweb/piweb_capability-studies.ts-1673610398094.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=d64a86dd7f200fb80a808442b6112f94","full":"https://images.zeiss.com/metrology/products/software/piweb/piweb_capability-studies.ts-1673610398094.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=40ee1d13544172d8703ac6e917d8e3b5"})
Więcej narzędzi
Twórz raporty zawierające inne przydatne narzędzia, takie jak wykresy pudełkowe, histogramy, linie trendu i wykresy słupkowe.
Zacznij już teraz – dzięki elastycznym rozwiązaniom ZEISS PiWeb
Skonfiguruj ZEISS PiWeb zgodnie ze swoimi potrzebami, w zależności od zastosowania i wyzwań.
ZEISS PiWeb small business solution
Sieciowe rozwiązanie lokalne dla małych firm.
Korzyści:
- Centralne zarządzanie bazą danych
- Ręczne wprowadzanie danych, ręczne przyrządy pomiarowe i przesyłanie danych z urządzeń innych firm
- Dostęp do obszernej biblioteki raportów standardowych
- Łatwa rozbudowa do rozwiązania dla przedsiębiorstw
ZEISS PiWeb enterprise
Sieciowe rozwiązanie lokalne dla dużych firm lub firm o niestandardowych potrzebach.
Korzyści:
- Nieograniczone miejsce na dane
- Indywidualna konfiguracja klienta
- Dostęp do zintegrowanych automatycznych powiadomień
- Dostęp do rozwiązań sieciowych na całym świecie poprzez licencje pływające