One Button. One Truth.

ZEISS O-SELECT

Maszyna ZEISS O-SELECT umożliwia łatwe i niezawodne pomiary optyczne 2D

Pobierz lub zamów materiały

Skontaktuj się z nami

ZEISS O-SELECT

Niezawodne pomiary za naciśnięciem przycisku

Dzięki automatycznej regulacji podświetlenia i ostrości wyeliminowano błędy pomiarowe spowodowane ingerencją operatora. Za naciśnięciem przycisku maszyna ZEISS O-SELECT analizuje cechy danego obiektu i dokumentuje wyniki pomiaru, także w postaci profesjonalnego raportu.

 

  • Wstęp

    ZEISS O-SELECT – nowy, inteligentny cyfrowy projektor pomiarowy

    W halach produkcyjnych ręczne narzędzia, takie jak goniometry, mierniki i projektory profilowe, coraz częściej ustępują miejsca optycznym i stykowym współrzędnościowym maszynom pomiarowym. Jednak wpływ operatora na dokładność ręcznych rozwiązań nadal pozostaje istotnym czynnikiem. W urządzeniu ZEISS O-SELECT udało się go ograniczyć do minimum. Dzięki zaawansowanej automatyzacji i łatwej obsłudze można szybko i regularnie przeprowadzać skomplikowane pomiary, a następnie je dokumentować.

    Pomiary seryjne za naciśnięciem przycisku

    Obiekty, dla który wygenerowano już plan pomiarowy, można zmierzyć urządzeniem ZEISS O-SELECT po naciśnięciu jednego przycisku. System automatycznie identyfikuje obiekt i wczytuje odpowiedni program. Również zorientowanie części odbywa się automatycznie. Urządzenie automatycznie dobiera optymalne podświetlenie i ostrość. Nie tylko ułatwia to obsługę, lecz także sprawia, że operator nie ma wpływu na powtarzalność wyniku pomiaru. Wynik pomiaru jest generowany i przesyłany automatycznie, a w razie potrzeby może zostać wydrukowany w formie raportu.

    Pełna automatyzacja

    1. Ułóż obiekt.
    2. Rozpocznij pomiar seryjny.
    3. Wygeneruj odtwarzalne, identyfikowalne wyniki i automatyczny raport.

    Zakres zastosowania

    Niezależnie od branży: motoryzacji, elektroniki czy tworzyw sztucznych ZEISS O-SELECT gwarantuje prostotę i niezawodność, jakich oczekuje się we współczesnym przemyśle. Cyfrowy projektor pomiarowy doskonale spisuje się w przypadku sprawdzania parametrów odległości, promieni i kątów. Najczęściej urządzenie wykorzystuje się do analizowania elementów perforowanych i wyginanych lub części formowanych wtryskowo bądź wycinanych laserem.

  • Optyka i podświetlenie

    Automatyczne ustawianie ostrości

    Niewłaściwie ustawiona ostrość może skutkować błędami pomiarowymi na poziomie kilku mikrometrów. Podczas ręcznego ustawiania ostrości łatwo jest popełnić błąd, którego operator nie jest w stanie wychwycić. Aby wyeliminować ten problem, maszyna ZEISS O-SELECT automatycznie identyfikuje mierzoną cechę i dobiera właściwą płaszczyznę ogniskowania. Innymi słowy eliminuje błędy operatora.

    Maszyna O-SELECT ustawia ostrość automatycznie – bez ingerencji operatora

    Telecentryczna optyka

    Standardowe obiektywy do aparatów fotograficznych działają na zasadzie perspektywy środkowej: im dalej znajduje się fotografowany obiekt, tym mniejszy jest jego obraz na matrycy. W obiektywie telecentrycznym powiększenie obrazu nie zmienia się wraz z osiowym oddalaniem obiektu. Oznacza to, że urządzenia wyposażone w tego typu obiektywy są w stanie precyzyjnie mierzyć części niezależnie od ich oddalenia.

    Automatyczna optymalizacja podświetlenia

    Pomiary optyczne można przeprowadzić wyłącznie przy właściwym oświetleniu. Aby zadbać o optymalne podświetlenie każdej cechy danego elementu, urządzenie ZEISS O-SELECT jest wyposażone w układ zmiennego oświetlenia. Dostosowuje on podświetlenie stosownie do analizowanej cechy, co wyklucza możliwość błędu operatora.

    1 Podwójny, 8-elementowy pierścień oświetlający światłem odbitym.
    2 Uchwyt montażowy dla opcjonalnego oświetlenia współosiowego.
    3 Oświetlenie pośrednie na potrzeby uzyskania maksymalnego kontrastu.

    Układ podświetlenia składa się z oświetlenia przechodzącego oraz górnego podwójnego pierścienia oświetlającego (każdy składa się z 8 segmentów). Natężenie światła odbitego i każdego segmentu podwójnego pierścienia oświetlającego jest ustawiane automatycznie pod kątem uzyskania optymalnego kontrastu, zależnie od charakterystyki analizowanego obiektu i położenia mierzonej cechy.

    Opcjonalne oświetlenie współosiowe

    Dostępne jest także oświetlenie ustawione współosiowo względem układu optycznego. Zaleca się je do pomiaru struktur głęboko położonych, które w innym wypadku mogą być ukryte w cieniu.

  • Oprogramowanie

    Najszybszy sposób na uzyskanie precyzyjnych rezultatów

    Oprogramowanie ZEISS O-SELECT łączy wiedzę specjalistów firmy ZEISS w zakresie metrologii z innowacyjnymi rozwiązaniami i prostotą obsługi. Pomiary seryjne można przeprowadzić za naciśnięciem jednego przycisku – niezależnie od operatora. Pomiary pojedyncze i plany pomiarowe to żaden problem: oprogramowanie ZEISS O-SELECT jest bardzo intuicyjne. Wyświetla jasne wskazówki dla operatora, ułatwiając mu pracę.

    Pomiary bezpośrednio na obrazie

    Niezbędne funkcje i informacje są zawsze na wyciągnięcie myszki. Na ekranie wyświetlane są jedynie niezbędne informacje. To podstawowa zasada działania programu ZEISS O-SELECT. W przypadku większości pomiarów nie trzeba w ogóle zamykać głównego okna. Zamiast zagłębiać się w kolejne opcje menu, pomiary można przeprowadzać bezpośrednio z poziomu obrazu. Zrozumiałe elementy graficzne i logiczna struktura oprogramowania znacznie ułatwiają jego obsługę. Co więcej, zawartość poszczególnych okien można indywidualne konfigurować.

    Obsługa przez ekran dotykowy

    Urządzenie ZEISS O-SELECT obsługuję się przy użyciu ekranu dotykowego, który gwarantuje wygodę i niespotykaną dotąd prostotę obsługi. W przypadku wielu zastosowań oznacza to, że nie trzeba używać klawiatury ani myszki.

    Pomiary seryjne za naciśnięciem przycisku

    Obiekty, dla który wygenerowano już plan pomiarowy, można zmierzyć urządzeniem ZEISS O-SELECT po naciśnięciu jednego przycisku. System automatycznie identyfikuje obiekt i wczytuje odpowiedni program. Również zorientowanie części odbywa się automatycznie. Urządzenie automatycznie dobiera optymalne podświetlenie i ostrość. Nie tylko ułatwia to obsługę, lecz także sprawia, że operator nie ma wpływu na powtarzalność wyniku pomiaru. Wynik pomiaru jest generowany i przesyłany automatycznie, a w razie potrzeby może zostać wydrukowany w formie raportu.

    W pełni zautomatyzowane pomiary seryjne

    1. Ułóż obiekt
    2. Rozpocznij pomiar seryjny
    3. Wyniki i raport

    Pojedyncze pomiary w kilka chwil – funkcja Kliknij i wybierz

    Urządzeniem ZEISS O-SELECT można szybko, łatwo i niezawodnie zmierzyć nawet nieznane elementy, dla których jeszcze nie wygenerowano planu pomiarowego. Na podstawie zdjęcia z automatycznie ustawionym wysokim kontrastem i optymalną ostrością system ZEISS O-SELECT identyfikuje potencjalne cechy, takie jak okręgi i proste.

    Po najechaniu kursorem myszy na jeden z tych elementów wyświetlą się informacje na jego temat, np. promień, odległość czy kąt. Kliknięciem można zaakceptować wstępną cechę, a następnie wybrać jedną z sugerowanych cech testowych – cały proces jest intuicyjny i odbywa się bezpośrednio na obrazie obiektu. Na koniec obok strzałki wymiarowej pojawia się wynik pomiaru. W ten sposób można uzyskać wszystkie wymiary nieznanego mierzonego elementu.

    Wykonywanie pomiarów pojedynczych i generowanie planów pomiarów

    1. Ułóż obiekt
    2. Rozpocznij pomiar pojedynczy
    3. Wybierz cechę przy użyciu funkcji Kliknij i wybierz
    4. Wygeneruj wyniki i raport
    5. Zapisz jako pomiar

    Generuj plany pomiarów

    Pomiar pojedynczy od seryjnego dzieli zaledwie jeden krok. Najpierw wykonaj pomiar pojedynczy standardową metodą, a następnie wybierz niezbędne cechy obiektu przy użyciu funkcji Kliknij i wybierz. Nie wymaga to żadnej specjalistycznej wiedzy, a proces programowania jest intuicyjny i przystępny. W tym samym czasie w tle generuje się plan pomiarowy. Wystarczy go zapisać i gotowe.

    Profesjonalne raporty

    Narzędzie do raportowania ZEISS PiWeb, wbudowane w system pomiarowy, umożliwia rejestrowanie i analizowanie pomiarów. Na potrzeby sprawnej wymiany informacji dostępne są różne szablony raportów – od prostego graficznego po szczegółowy w postaci listy. Dzięki temu można w kilka chwil i bez specjalistycznej wiedzy wygenerować raport. Szczególnie wygodne jest generowanie raportu za jednym kliknięciem – w ten sposób za naciśnięciem przycisku powstaje raport zawierający dane z aktualnie otwartego okna.

  • Struktura systemu

    Inteligentny, kompaktowy i niezawodny

    Sprzęt i oprogramowanie urządzenia ZEISS O-SELECT dopasowano optymalnie pod kątem niezrównanej szybkości i niezawodności pomiaru geometrii 2D. Niewielkie wymiary i wytrzymałość sprawiają, że urządzenie można zamontować w niemal dowolnym miejscu. W ten sposób możesz mierzyć części dokładnie tam, gdzie jest to niezbędne – zarówno podczas sprawdzania dostaw, jak i na hali produkcyjnej.

    1 Aparat o wysokiej rozdzielczości

    2 Napęd układu AF

    3 Telecentryczna optyka ZEISS

    4 Podwójny pierścień oświetlający (każdy składający się z 8 segmentów)

    5 Opcjonalne oświetlenie współosiowe

    Elementy systemu

    System składa się z urządzenia pomiarowego, wyświetlacza dotykowego i oprogramowania ZEISS O-SELECT. W porównaniu do małego, wbudowanego ekranu zewnętrzny wyświetlacz gwarantuje wiele korzyści: lepszy ogląd sytuacji, lepsze położenie i więcej szczegółów. Ponieważ jest dotykowy, jego obsługa jest łatwa. Oprogramowanie powstało specjalnie pod kątem urządzeń ZEISS O-SELECT w oparciu o nową, innowacyjną koncepcję. Jest to szczególnie istotne nie tylko dla niedoświadczonych operatorów, lecz także dla ekspertów, którzy dzięki inteligentnemu systemowi będą mieli mniej pracy.

    Opcjonalne oświetlenie współosiowe

    Dostępne jest także oświetlenie ustawione współosiowo względem układu optycznego. Zaleca się je do pomiaru struktur głęboko położonych, które w innym wypadku mogą być ukryte w cieniu.

    Wymiary maszyny
    402 mm x 510 mm x 727 mm (szer. x dł. x wys.)
    Zakres pomiaru
    ok. 100 x 90 mm
    Elementy systemu
    Cyfrowy projektor pomiarowy, stacja robocza, wyświetlacz, oprogramowanie ZEISS O-SELECT
Na naszej stronie internetowej stosujemy pliki cookie. Pliki cookie są małymi plikami tekstowymi, które są zapisywane przez strony internetowe na komputerze użytkownika. Pliki cookie powszechnie stosowane i pomagają w optymalnym wyświetlaniu stron i ich doskonaleniu. Korzystając z naszych stron użytkownik wyraża na to zgodę. więcej