Zamień wyniki pomiaru w użyteczne dane ZEISS PiWeb
ZEISS PiWeb
Nowość: ZEISS PiWeb App
Dane pomiarowe pod ręką
Nieodzowną częścią interfejsu użytkownika jest obecnie dostęp do bieżących informacji w dowolnym miejscu i czasie. Stało się to możliwe dzięki aplikacji ZEISS PiWeb App. Zapewnia ona dostęp i analizę danych pomiarowych online.

Ułatwione zarządzanie danymi pomiarowymi
Tworzenie historii części swojego produktu. Możliwość łatwego tworzenia rozbudowanych raportów, które łączą dane wielu części z różnych systemów pomiarowych w jednym dokumencie.
Rozsądna inwestycja, dzięki możliwości integrowania ZEISS PiWeb z zewnętrznymi systemami pomiarowymi i urządzeń do pomiarów ręcznych. Interfejsy oprogramowania typu open source ułatwiają integrację ZEISS PiWeb z niestandardowymi aplikacjami.
Dostęp do danych w czasie rzeczywistym i z dowolnego miejsca dzięki potężnej architekturze klient-serwer ZEISS PiWeb. Łatwa konfiguracja minimalizuje koszty IT i pozwala skoncentrować się na procesie produkcyjnym.
Graficzne obrazowanie wyników przy wykorzystaniu wielu wbudowanych stylów wykresów i tabel. Wstępnie zdefiniowane szablony i przykłady ułatwiają rozpoczęcie pracy i stanowią podstawę do dostosowania każdego raportu do określonych wymagań.
Interakcja z danymi w 3D za pomocą wbudowanych funkcji CAD. Optymalna wydajność pozwala nawet przeglądać i analizować dane chmury punktów z optycznych systemów pomiarowych na standardowym laptopie.
Bezpieczeństwo danych, dzięki wykorzystaniu zintegrowanego zarządzania użytkownikami i szyfrowanych połączeń.
Wszystkie potrzebne dane w jednym raporcie. Dostępne online.
Rozwiązania sieciowe ZEISS PiWeb zapisują wysokiej jakości dane i inne informacje dot. produktu na serwerze. Za pośrednictwem bezpiecznego połączenia internetowego można uzyskać dostęp do tych danych z dowolnego miejsca i wyświetlić je w postaci raportów. Oznacza to, że dane pomiarowe z dużej liczby maszyn pomiarowych różnych producentów są dostępne w skali globalnej - w czasie rzeczywistym.

Proste generowanie szablonów raportów
Generowanie szablonów raportów w ZEISS PiWeb nie stanowi problemu. Pracujesz intuicyjnie, przeciągając i upuszczając, kierując się menu dialogowym. Wiele standardowych szablonów można modyfikować w razie potrzeby lub wygenerować własne szablony ze wskaźnikami jakości, interaktywnie regulowanymi widokami CAD, wykresami, histogramami, diagramami Cp-Cpk itp.
Identyfikacja czynników wpływających na jakość
Dane z procesu produkcji mogą być również przetwarzane przez ZEISS PiWeb. Umożliwia to analizę związku przyczynowego między parametrami procesu a wynikami jakości. Ta wiedza pomoże na przykład zapobiegać błędom produkcyjnym i wydłużyć żywotność narzędzi.
Analizy statystyczne
ZEISS PiWeb oferuje wszystkie narzędzia niezbędne do analiz statystycznych, np. rozkłady i funkcje do zarządzania wartościami odstającymi i do analiz systemu pomiarowego. Dane QDAS można importować i eksportować.
Raporty dynamiczne
Wszystkie raporty generowane z ZEISS PiWeb są dynamiczne, co oznacza, że wyświetlane dane pozostają powiązane z bazą danych. Dostęp do interaktywnych raportów jest możliwy za pomocą przeglądarki Monitora PiWeb. Tutaj można również obracać i powiększać widok CAD, a aby uzyskać dostęp do szczegółowych informacji wystarczy kliknąć punkt pomiarowy na rysunku. System umożliwia filtrowanie danych, a nawet wybranie innych źródeł danych.

Rozwiązanie jednostanowiskowe

ZEISS PiWeb jest dostępny w czterech wersjach. Już w ZEISS PiWeb dostępne jest profesjonalne raportowanie i wyświetlane są postęp wartości ostatnich dziesięciu pomiarów. ZEISS PiWeb plus umożliwia oceny statystyczne do 1000 pomiarów i analizę systemu pomiarowego.
Rozwiązanie sieciowe
Do gromadzenia danych z kilku maszyn pomiarowych i innych źródeł danych ZEISS oferuje rozwiązania bazodanowe ZEISS PiWeb sbs i ZEISS PiWeb enterprise. ZEISS PiWeb sbs został zaprojektowany do zarządzania danymi w laboratorium pomiarowym lub małej firmie. ZEISS PiWeb enterprise dedykowany jest dużym wielooddziałowym firmom i służy do gromadzenia danych z wielu rozproszonych lokalizacji.
